熒光法頂空殘氧儀X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求。熒光法頂空殘氧分析儀使用熒光法特質(zhì)的熒光貼片OXYDOT ，可以實現(xiàn)無損檢測分析，應(yīng)用于長期的包裝穩(wěn)定性研究。也可應(yīng)用于溶液配液罐頂空殘氧分析。 特征： ● 零樣氣消耗，只需要極少的樣氣量，**少0.1ml ● 可實現(xiàn)對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測 ● 自動生成數(shù)據(jù)隨時間變化曲線 ● 內(nèi)置溫度和壓力補償 ● 支持無損檢測分析，實現(xiàn)留樣分析 ● 傳感器免維護，無需更換 ● 設(shè)備零維護，零耗材 ● 數(shù)據(jù)自動無限儲存，PDF導(dǎo)出 上海進口熒光法殘氧高性價比的選擇

熒光法頂空殘氧分析儀X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀，適用于制藥 輸液瓶、西林瓶、安瓿瓶及食品飲料瓶罐包裝等行業(yè)頂空殘氧/溶氧測試應(yīng)用。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，**小樣氣量*需0.1ml即可完成分析。有別于傳統(tǒng)方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。 熒光檢測原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質(zhì)接觸后，使得熒光物質(zhì)發(fā)射的熒光信號減弱。信號衰減程度和氧含量成正比。 山東專業(yè)熒光法殘氧全國發(fā)貨

熒光法頂空殘氧分析儀，用于安瓿瓶、西林瓶、輸液瓶/袋、卡式瓶等頂空殘氧溶解氧分析，可用于負壓環(huán)境下分析，基于光學(xué)原理的非采樣分析。 熒光法頂空殘氧分析儀X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀，適用于制藥 輸液瓶、西林瓶、安瓿瓶及食品飲料瓶罐包裝等行業(yè)頂空殘氧/溶氧測試應(yīng)用。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，**小樣氣量*需0.1ml即可完成精細分析。有別于傳統(tǒng)方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。 熒光檢測原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質(zhì)接觸后，使得熒光物質(zhì)發(fā)射的熒光信號減弱。信號衰減程度和氧含量成正比。

型號：X-325i X-325i 是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，樣氣量*需0.1ml即可完成分析。有別于傳統(tǒng)方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。 使用熒光法特質(zhì)的熒光貼片OXYDOT ，可以實現(xiàn)無損檢測分析，應(yīng)用于長期的包裝穩(wěn)定性研究。也可應(yīng)用于溶液配液罐頂空殘氧分析。 特征： ● 零樣氣消耗，只需要極少的樣氣量，只需0.1ml ● 可實現(xiàn)對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測 ● 自動生成數(shù)據(jù)隨時間變化曲線 ● 內(nèi)置溫度和壓力補償 ● 支持無損檢測分析，實現(xiàn)留樣分析 ● 傳感器免維護，無需更換 ● 設(shè)備零維護，零耗材 ● 數(shù)據(jù)自動無限儲存，PDF導(dǎo)出

型號：X-325i 熒光法頂空殘氧儀X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，*小樣氣量*需0.1ml即可完成精細分析。有別于傳統(tǒng)方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。 使用熒光法特質(zhì)的熒光貼片OXYDOT ，可以實現(xiàn)無損檢測分析，應(yīng)用于長期的包裝穩(wěn)定性研究。也可應(yīng)用于溶液配液罐頂空殘氧分析。 熒光法殘氧哪家專業(yè)

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