材料研究樣品臺(tái)緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺(tái)能夠精確地移動(dòng)樣品，因此擴(kuò)展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺(tái)可對(duì)2Kg的樣品進(jìn)行電動(dòng)移動(dòng)：X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm，可用于分析大型塊狀樣品或多個(gè)小樣品；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺(tái)的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應(yīng)力、織構(gòu)和外延薄膜分析。另外，它還具有真空多用途通孔，可通過小型薄膜樣品架或大型手動(dòng)X-Y樣品臺(tái)，將樣品固定在適當(dāng)位置。二者均可用于溫控樣品臺(tái)，進(jìn)行非環(huán)境分析。另外，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺(tái)卡口安裝系統(tǒng)，輕松更換樣品臺(tái)。PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個(gè)確保測(cè)得強(qiáng)度的線性的自動(dòng)吸收器，并可在以下之間切換：電動(dòng)狹縫，分光晶體。進(jìn)口XRD衍射儀檢測(cè)

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí)。除此之外，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。上海進(jìn)口XRD衍射儀定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線束局部分析。

在環(huán)境監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，XRD 衍射儀的潛在應(yīng)用正逐漸被挖掘。環(huán)境中的污染物，如土壤和水體中的重金屬、工業(yè)廢氣中的粉塵顆粒物等，其晶體結(jié)構(gòu)和物相組成與環(huán)境質(zhì)量密切相關(guān)。通過 XRD 衍射儀分析土壤中重金屬化合物的晶體結(jié)構(gòu)，可了解重金屬的賦存形態(tài)和遷移轉(zhuǎn)化規(guī)律，評(píng)估土壤污染程度。在大氣污染監(jiān)測(cè)方面，對(duì)空氣中粉塵顆粒物進(jìn)行 XRD 分析，能夠確定其礦物成分，追蹤污染源。XRD 衍射儀還可用于研究環(huán)境修復(fù)材料的晶體結(jié)構(gòu)變化，評(píng)估修復(fù)效果。隨著研究的深入，XRD 衍射儀有望成為環(huán)境監(jiān)測(cè)領(lǐng)域的重要技術(shù)手段，為環(huán)境保護(hù)和污染治理提供科學(xué)支撐 。

汽車和航空航天：配備了UMC樣品臺(tái)的D8D的一大優(yōu)勢(shì)就是可以對(duì)大型機(jī)械零件進(jìn)行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導(dǎo)體與微電子：從過程開發(fā)到質(zhì)量控制，D8D可以對(duì)亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征。制藥業(yè)篩選：新結(jié)構(gòu)測(cè)定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟，對(duì)此，D8D具有高通量篩選功能。儲(chǔ)能/電池：使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測(cè)試電池材料，直接了當(dāng)?shù)墨@取不斷變化的儲(chǔ)能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息。配備了UMC樣品臺(tái)的DISCOVER，優(yōu)勢(shì)在于對(duì)大型機(jī)械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。

在納米材料研究領(lǐng)域，XRD 衍射儀展現(xiàn)出無可替代的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。納米材料因其尺寸效應(yīng)和量子限域效應(yīng)，具有與傳統(tǒng)材料截然不同的物理化學(xué)性質(zhì)。XRD 衍射儀能夠精確測(cè)定納米材料的晶體結(jié)構(gòu)，即便納米顆粒尺寸極小，也可通過其衍射圖譜獲取晶格參數(shù)、晶胞結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。與其他表征手段相比，XRD 衍射儀不受納米材料表面狀態(tài)影響，可深入探測(cè)材料內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)。通過分析衍射峰的寬化程度，利用謝樂公式還能準(zhǔn)確估算納米顆粒的平均粒徑，誤差范圍極小。在研究納米復(fù)合材料時(shí)，XRD 衍射儀可清晰區(qū)分不同相的衍射峰，確定各相在復(fù)合材料中的比例與分布，為納米材料的合成、性能優(yōu)化以及實(shí)際應(yīng)用提供堅(jiān)實(shí)的理論依據(jù)，助力科研人員開發(fā)出性能出色的納米材料 。在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度。杭州倒空間檢測(cè)分析

D8測(cè)角儀巨有市場超前地精確度，為布魯克獨(dú)有的準(zhǔn)直保證奠定了基礎(chǔ)。進(jìn)口XRD衍射儀檢測(cè)

由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。進(jìn)口XRD衍射儀檢測(cè)