X射線衍射(XRD)和反射率是對(duì)薄層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識(shí)別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測(cè)定,包括微晶尺寸和應(yīng)變。X射線反射率測(cè)量(XRR):用于提取從簡(jiǎn)單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長(zhǎng)結(jié)構(gòu):層厚度、應(yīng)變、弛豫、鑲嵌、混合晶體的成分分析。應(yīng)力和織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析。D8D對(duì)地質(zhì)構(gòu)造研究,借助μXRD,哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定都不在話下。江蘇原位分析XRD衍射儀檢測(cè)
材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺(tái)式XRD儀器,主要用于研究和質(zhì)控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu)、研究快速可靠的SAXS測(cè)量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)(微晶尺寸)。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)(PDF)陽極焦炭(LC值)分析(PDF)DIFFRAC.DQUANT:對(duì)殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化(PDF)布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案,旨在以可靠的方式,支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時(shí)隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作。檢測(cè)XRD衍射儀單價(jià)X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應(yīng)力分析、晶體取向分析。
制劑中微量API的晶型檢測(cè)引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國(guó)內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測(cè)更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器,為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具。
藥用滑石粉中石棉的測(cè)定引言滑石粉主要成分是滑石(含水的硅酸鎂)?;塾糜卺t(yī)藥、食品行業(yè)的添加劑。在滑石成礦過程中,常伴生有其他礦石,如角閃石和蛇紋石等石棉成分。石棉為物質(zhì)。而根據(jù)中國(guó)藥典,藥用滑石粉中,石棉應(yīng)“不得檢出”。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰,在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同不,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。
嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤(rùn)膚粉、美容粉、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,能增強(qiáng)這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能。所以,在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會(huì)引起石棉肺惡性疾病,我國(guó)已明確把石棉列為化妝品禁用物質(zhì),用于化妝品生產(chǎn)的滑石粉必須經(jīng)過檢測(cè)不含石棉成分方可使用。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結(jié)合的辦法。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個(gè)難點(diǎn),主要采用X射線衍射法。石棉定量采用基底修正法,具體操作步驟請(qǐng)參考:?SN/T2549.2-2010:進(jìn)出口化妝品中石棉的測(cè)定:第2部分:X射線衍射-偏光顯微鏡法?ISO22262-3_2016:QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethod?GB/T23263-2009:制品中石棉含量測(cè)定法UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品、掃描測(cè)量應(yīng)用和涂層分析,也能測(cè)量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn)。江西點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀推薦咨詢
D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,可通過使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測(cè)角儀還是ATLAS測(cè)角儀進(jìn)行區(qū)分。江蘇原位分析XRD衍射儀檢測(cè)
薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析,從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜等。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。江蘇原位分析XRD衍射儀檢測(cè)