機(jī)房建設(shè)工程注意事項(xiàng)
關(guān)于我國(guó)數(shù)據(jù)中心的工程建設(shè)標(biāo)準(zhǔn)情況
數(shù)據(jù)中心IDC機(jī)房建設(shè)工程
機(jī)房建設(shè)都有哪些內(nèi)容?
機(jī)房建設(shè)應(yīng)掌握哪些知識(shí)點(diǎn)?
機(jī)房建設(shè)的要求是什么?
機(jī)房建設(shè)公司所說的A類機(jī)房和B類機(jī)房建設(shè)標(biāo)準(zhǔn)差別
數(shù)據(jù)中心機(jī)房建設(shè)需要考慮什么問題?
了解這四點(diǎn)從容對(duì)待數(shù)據(jù)中心跨機(jī)房建設(shè)!
全屏蔽弱電數(shù)據(jù)機(jī)房建設(shè)方案
避免焊點(diǎn)反射焊點(diǎn)的形狀和接觸角是焊點(diǎn)反射的根源。焊點(diǎn)的形成 依賴于焊盤的尺寸、器件的高度、焊錫的數(shù)量和回流工藝 參數(shù)。為了防止焊接反射,應(yīng)當(dāng)避免器件對(duì)稱排列。波峰焊圖5經(jīng)過波峰焊后,焊點(diǎn)所有的參數(shù)會(huì)有很大的變化,這 主要是由于焊爐內(nèi)錫的老化導(dǎo)致焊盤反射特性從光亮到灰 暗,因此,在檢查時(shí)算法上必須要包含這些變化。在波峰焊 中,典型的缺陷是短路和焊珠。當(dāng)檢測(cè)到短路時(shí),假如印刷 的圖案或者無反射印刷這兩種情況的減少以及應(yīng)用阻焊層, 就可以消除這些誤報(bào)。如果基準(zhǔn)點(diǎn)沒有被阻焊膜蓋住而過波 峰焊,可能會(huì)導(dǎo)致一個(gè)圓形基準(zhǔn)點(diǎn)上錫成了一個(gè)半球,其內(nèi) 在的反射特性將會(huì)發(fā)生改變;應(yīng)用十字型作為基準(zhǔn)點(diǎn)或者用 阻焊層覆蓋基準(zhǔn)點(diǎn),可以防止這種情況的發(fā)生。判定:生成數(shù)字化檢測(cè)報(bào)告企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通過積累歷史缺陷數(shù)據(jù)持續(xù)優(yōu)化算法參數(shù),將劃痕識(shí)別靈敏度提升至微米級(jí)?;⑶饏^(qū)購(gòu)買自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸
超聲波探傷超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)有多種波型,檢驗(yàn)中**常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測(cè)金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡(jiǎn)單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷;用橫波可探測(cè)管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷;用表面波可探測(cè)形狀簡(jiǎn)單的鑄件上的表面缺陷;用板波可探測(cè)薄板中的缺陷。如圖《DAUTD系統(tǒng)組成結(jié)構(gòu)》給出一個(gè)基于PC-DSP的數(shù)字化超聲波自動(dòng)探傷系統(tǒng)( DAUTD)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。整個(gè)系統(tǒng)由探頭陣列、機(jī)械傳動(dòng)裝置、傳動(dòng)控制卡、4× 4模擬通道處理板、電源控制與同步觸發(fā)板、數(shù)字信號(hào)處理板、工控機(jī)及其外設(shè)組成。虎丘區(qū)購(gòu)買自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸這個(gè)位置的檢查直接地支持過程跟蹤和特征化。
始終采用同樣的材料和產(chǎn)品,再加上優(yōu)化的PCB設(shè)計(jì), 正如上面所描述的那樣,可以減小由于產(chǎn)品的變更對(duì)AOI/ AXI測(cè)試所造成的影響。在這里必須指出,比照所有用于 AOI和AXI 檢查的標(biāo)準(zhǔn),PCB布局的建議可使檢查工藝適當(dāng) 簡(jiǎn)化并更有效率。DFT可以提高缺陷的檢查率,減少誤報(bào), 縮短編程時(shí)間和降低編程的難度,從而**終達(dá)到有效降低 產(chǎn)品制造成本的目的。對(duì)無缺陷生產(chǎn)來講,自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI)是必不可少的。在轉(zhuǎn)到使用無鉛工藝時(shí),制造商將面臨新的挑戰(zhàn),在生產(chǎn)中會(huì)出現(xiàn)其他的問題,引起了人們的關(guān)注。本文分析轉(zhuǎn)到無鉛工藝的整個(gè)過程,特別是在大規(guī)模生產(chǎn)中引進(jìn)了0402無鉛元件
作為慣例,在生產(chǎn)中,測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實(shí)際運(yùn)作中無數(shù)次地證明,*這樣做是遠(yuǎn) 遠(yuǎn)不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時(shí)間內(nèi)要測(cè)試一個(gè)新批次的 PCB,有可能會(huì)發(fā)生這樣的情況:ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色,或者晶體管的引腳變短了、是彎的;或是電阻的顏色由黃色變成了藍(lán)色的,等等。AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是,其中的一些變化需要花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行處理, 因?yàn)槲覀儾荒茴A(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用,或 是存在一個(gè)錯(cuò)誤的元器件布局。同時(shí),面對(duì)質(zhì)量方面的困 難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個(gè)一致的,確實(shí) 可行的說明。AOI通常放置在生產(chǎn)線末端。在這個(gè)位置,設(shè)備可以產(chǎn)生范圍過程控制信息。
基準(zhǔn)點(diǎn)圖4設(shè)備可以檢查所有 類型的基準(zhǔn)點(diǎn),而且任 何構(gòu)件都可以被定義成 一個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)。雖然三個(gè)基 準(zhǔn)點(diǎn)可以補(bǔ)償一塊單板的 變形,但通常情況下只需 要確定兩個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)就可以 了。每個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)至少離單 板邊緣5mm(0.2”)。 十字形、菱形、星形等比較適用,并建議使用統(tǒng)一的黑背 景。此外,十字形的基準(zhǔn)點(diǎn)特別有優(yōu)勢(shì),他們?cè)跈z測(cè)光下的圖像十分穩(wěn)定且可以被快速和容易地判定。。確認(rèn)壞板設(shè)備有能力檢查所有已知類型的壞板標(biāo)識(shí)。板上的任 何構(gòu)件都可以被定義為壞板標(biāo)識(shí)。這里建議采用與上述基 準(zhǔn)點(diǎn)的判定相類似的方法,即在可能的情況下,首先通過 檢查整板或已完成組裝的單板上的單個(gè)壞板標(biāo)識(shí)來進(jìn)行確 認(rèn)。板上每個(gè)單獨(dú)的壞板標(biāo)識(shí)只有在整板的壞板標(biāo)識(shí)檢查失敗后才會(huì)被逐一檢查;整板的壞板標(biāo)識(shí)應(yīng)該定位于PCB的邊上。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測(cè)方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。昆山安裝自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷售廠
決定哪里放置AOI需要認(rèn)識(shí)到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計(jì)劃內(nèi)?;⑶饏^(qū)購(gòu)買自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸
印刷圖案圖3所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的,例如,當(dāng)元 器件的邊框或元器件本體上的字母單獨(dú)出現(xiàn)在組件的某個(gè) 區(qū)域從而干擾對(duì)其他部分的檢查時(shí),可以手工調(diào)整檢查程 序。盡管如此,在生產(chǎn)允許的范圍內(nèi),圖案的印刷范圍仍 然有一個(gè)較大的選擇,因此,減少非反射性標(biāo)識(shí)印刷(黑 或暗黃)值得加以考慮。另外一個(gè)可能出現(xiàn)的情況是需要 有選擇地印刷標(biāo)識(shí):例如,當(dāng)某些特定的器件(如霍爾傳 感器)正面向下時(shí)就必須印刷成白色;而另一種情況是印 有極性標(biāo)志的有傾斜角的鉭電容器件;這樣能使標(biāo)識(shí)和背 景形成鮮明的對(duì)比,使得檢查的圖像更加清晰?;⑶饏^(qū)購(gòu)買自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸
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