USB4.0的接收容限測試

對于USB4.0的接收端來說，主要進行的是接收容限測試，用于驗證接收端在壓力信號(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn)。具體的測試項目包括壓力信號的誤碼率測試(BER)、突發(fā)誤碼率測試(MultiError-Burst)、頻率偏差(FrequencyVariations)、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測試要在壓力信號下進行，因此需要先用高速誤碼儀的碼型發(fā)生器產(chǎn)生帶預(yù)加重、正弦抖動(PJ)、隨機抖動(RJ)、擴頻時鐘(SSC)、共模噪聲(ACCM)的信號，并用高帶寬示波器進行壓力信號校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完成后再把壓力信號注入被測件，在不同的正弦抖動幅度和頻率下進行誤碼率測試。在USB4.0的接收容限測試中，需要做兩種場景的測試：Casel的測試中沒有插入USB電纜，模擬鏈路損耗小的情況；Case2的測試中要插入2m 克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室USB標(biāo)準(zhǔn)測試方案；DDR測試USB測試USB測試

USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”；測 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因為 USB4.0 需要支持有源電纜和無源電纜兩種應(yīng)用場景，  針對 的測試點分別是 TP2 和TP3，  即通俗講的近端測試和遠端測試。 在進行遠端測試時，需要考慮無源電纜的影響。因為一根實體的 無源電纜很難完整的表征所有惡劣的場景，  包括插入損耗、回 波損耗、串?dāng)_等，為了保證測試的一致性和可重復(fù)性，發(fā)動端測 試都是用軟件的算法，  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式， 實現(xiàn)參考鏈路的模擬。同時，  為了保證測試精度，  USB4.0 要求示 波器在進行信號捕獲前，需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測試電纜的影響。 DDR測試USB測試USB測試USB3.0一致性測試環(huán)境；

USB測試

基本介紹隨著USB技術(shù)在消費電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進行USB測試。北測是獲得認可的測試實驗室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測試·外部裝置·主機內(nèi)插卡·集線器·系統(tǒng)·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG

USB2.0技術(shù)已被的市場接受，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開新天地，包括全動態(tài)視訊至輔助性的、只有錢包大小的硬盤機。但是，隨著資料速率的急速升高，也出現(xiàn)了新的測試和量測方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來了許多好處，但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來了各種新的設(shè)計挑戰(zhàn)。特別是在訊號品質(zhì)問題方面，如電路板的布局、抖動、上升和下降時間、電磁場干擾、噪聲，和接地噪聲等，都已成為需待解決的設(shè)計問題。保持訊號質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格，并獲得USB2.0「認證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一。訊號質(zhì)量測試包括:?眼圖測試?信號速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動?KJ抖動?連續(xù)抖動?單調(diào)測試（適用于高速）?漲落時間 USB4.0一致性測試環(huán)境；示波器、測試軟件、夾具；

USB接口測試USB3.0測試USB-IF標(biāo)準(zhǔn)隨著USB技術(shù)在消費電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進行USB測試。是獲得認可的測試實驗室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。為滿足行業(yè)發(fā)展的需要，提供的USB測試服務(wù)，包括USB一致性測試、USB性能測試以及USB產(chǎn)品調(diào)試實驗室租賃服務(wù)。

測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測試外部裝置主機內(nèi)插卡集線器系統(tǒng)集成電路電線組件連接器USBOTG USB2.0一致性測試環(huán)境；數(shù)字信號USB測試熱線

USB3.0的總線架構(gòu)展示？DDR測試USB測試USB測試

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強的供電能力及對多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實現(xiàn)。由于USB總線的信號速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計和測試驗證工作帶來了挑戰(zhàn)，對于測試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細介紹其相關(guān)的電氣性能測試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開介紹。DDR測試USB測試USB測試