UHT系列黑體是高溫，腔式黑體，溫度范圍1550℃。黑體的特點在于發(fā)射腔的25mm的較大孔徑。黑體發(fā)射體是使用底端封閉圓筒腔體的概念設計的。可以在0.2μm至超過200μm（可至500μm）的超寬光譜范圍內(nèi)中提供高發(fā)射率。這種超寬譜帶使得可以將UHT黑體作為UV、可見光、紅外波段和THz波段的標準輻射源。UHT黑體可以直接從內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用標準USB端口從PC遠程控制。

25mm的較大孔徑；提供從0.2到超過200的高發(fā)射率；可以內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用USB端口從PC遠程控制。 專業(yè)校準，熱成像基數(shù)參數(shù)精確無誤，守護更周全細致！INFRAMET熱成像校準系統(tǒng)故障

SAFT是專業(yè)用來測量成像距離只有幾米的短距熱像儀的小型模塊化設備。絕大多數(shù)的商用熱像儀屬于這一范疇SAFT不使用折射光管作為投射裝置，所以分辨率片到被測成像儀的距離須比較短。所以SAFT一般推薦用來檢測上面提到的小型短距，小口徑，寬FOV的熱像儀。如果需要測試大口徑或者比較窄視野的熱像儀時，我們也提供額外的折射光管供客戶選擇。

由于SAFT把一系列的分辨率片裝在了電動光柵上所以它可以快速地測量熱像儀的各種參數(shù)。一般SAFT由TCB-2D黑體，一組分辨率片，ARC-500屏蔽裝置，PC，抓幀器，TAM軟件，還有一些可選模塊組成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被測熱像儀上，根據(jù)被測熱像儀所產(chǎn)生的扭曲圖像副本再結合軟件或者主觀判斷我們可以衡量出該被測熱像儀的性能，另外熱像儀的一些重要參數(shù)也都包含在了測量項目中。 上海熱成像校準系統(tǒng)品牌高效熱成像，基數(shù)參數(shù)精確調(diào)校，夜間監(jiān)控更精確！

在國際市場提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優(yōu)化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標：約1μm至約15μm。這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現(xiàn)。由于這種黑體的發(fā)射率在波長約0.1mm處開始下降，并且在波長超過約1mm變得非常低，所以典型的面源黑體不能用于模擬THz帶（0.1mm至1mm）和亞THz帶（1mm至10mm的波長）的黑體目標溫度。在典型的紅外黑體中使用的高輻射率涂層對于太赫茲光學輻射而言變得部分半透明，特別是在長波處大約0.5mm。

TAIM可以對不超過120mm的光學瞄準鏡和熱夾鉗提供擴展的測試和視線。可以使用對從電子輸出捕獲的圖像或從被測設備的顯示器捕獲的圖像進行分析來執(zhí)行測試。總測試功能:1.蕞小可分辨溫差MRTD測量2.圖像偏轉角度和熱像儀夾像旋轉測量3.屈光度調(diào)節(jié)范圍、目鏡度數(shù)和屈光度刻度精度測量4.在電子輸出和光學輸出（顯示器）上測量MTF，NETD，F(xiàn)PN，非均勻性，F(xiàn)OV，失真，放大倍數(shù)。注意：噪聲參數(shù)只在電子輸出端測量。選配：1.檢查從無限遠對焦到短距離對焦是否有圖像偏移科技領航，熱成像校準系統(tǒng)，基數(shù)參數(shù)精確，守護每一刻安全！

INFRAMET SAFT 熱成像光電測試系統(tǒng)版本：SAFT所測熱像儀一般要滿足以下條件:1.所測熱像儀的溫度范圍是0°C到100°C2.被測成像儀具有模擬視頻輸出3.主要測量被測熱像儀的這些參數(shù):accuracy,NETD,SRFandMRTD這樣的SAFT設備一般由以下的模塊組成:TCB-2D黑體,ARC500屏蔽裝置,一組6個4-Bar分辨率片,一個正方形分辨率片,一組6個slit分辨率片,PC,抓幀器,TCB控制軟件,TAM軟件,DC12V電源。以下可選模塊（拓展SAFT設備檢測能力）:1、TCB-2D黑體升級到HT黑體，可讓所測熱像儀的溫度范圍擴大到0°C到180°C。2、可選MTB-2D黑體(0°C到550°C)，可讓所測熱像儀的溫度范圍擴大到0°C到550°C。3、可選CameraLink(orGigE)抓幀器和其對應的軟件，使得SAFT可測具有CameraLink(orGigE)輸出的熱像儀。4、可選CDT660HR光管，增加設備的長距離模擬功能另外使SAFT可檢測中距離，口徑5、60mm的熱像儀。(還有更大的光管可供選擇)?？蛇xEdge分辨率片,FOV分辨率片和TAS-T10軟件，使得設備可以檢測熱像儀的MTF和FOV。高效熱成像，基數(shù)參數(shù)精確調(diào)校，夜間監(jiān)控，一目了然！INFRAMET熱成像校準系統(tǒng)故障

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由于以下幾個原因，太赫茲區(qū)域黑體的設計是一個技術挑戰(zhàn)：a）需要THz/短波頻譜帶中高吸收率涂層的發(fā)射體以確保高發(fā)射率；b）由于THz/微波成像儀的低分辨率，所以需要大面積的黑體；c）需要很高的溫度均勻性、溫度穩(wěn)定性和準確度，以便能夠對THz/微波傳感器進行準確校準。這些黑體的設計基于針對THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對不同的光譜帶進行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測試/校準太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統(tǒng)中的參考源的理想選擇。INFRAMET熱成像校準系統(tǒng)故障