激光干涉儀具有廣泛的應用領域，包括但不限于：科學研究：用于檢測引力波、測量微小位移和振動等。工業(yè)制造：用于精密機械加工、質(zhì)量控制和機床校準等。在機床校準中，激光干涉儀能夠測量機床的線性定位誤差、直線度誤差、偏擺角、俯仰角和滾動角等，以及速度、加速度、振動等參數(shù)，并評估機床的動態(tài)特性。計量學：用于長度標準的校準。通信：用于光纖傳感和信號處理。四、主要特點高精度：激光干涉儀能夠實現(xiàn)亞納米級的測量精度，非常適合各種高精度測量應用。邁克爾遜干涉儀：由阿爾伯特·邁克爾遜發(fā)明，主要用于測量光的波長、干涉條紋的變化等。蘇州安裝雙頻激光干涉儀選擇

反射光和透射光分別垂直入射到全反射鏡M1和M2，它們經(jīng)反射后回到G1（左）的半透半反射膜處，再分別經(jīng)過透射和反射后，來到觀察區(qū)域E。G2（右）為補償板，它與G1為相同材料，有相同的厚度，且平行安裝，目的是要使參加干涉的兩光束經(jīng)過玻璃板的次數(shù)相等，兩束光在到達觀察區(qū)域E時沒有因玻璃介質(zhì)而引入額外的光程差。當M2和M1'嚴格平行時，表現(xiàn)為等傾干涉的圓環(huán)形條紋，移動M2時,會不斷從干涉的圓環(huán)中心“吐出”或向中心“吞進”圓環(huán)。兩平面鏡之間的“空氣間隙”距離增大時，中心就會“吐出”一個個條紋；反之則“吞進”。M2和M1'不嚴格平行時，則表現(xiàn)為等厚干涉條紋，移動M2時，條紋不斷移過視場中某一標記位置，M2平移距離 d 與條紋移動數(shù) N 的關系滿足：d=Nλ/2，λ為入射光波長。高新區(qū)安裝雙頻激光干涉儀量大從優(yōu)而雙頻激光干涉儀正好克服了這一弱點，它是在單頻激光干涉儀的基礎上發(fā)展的一種外差式干涉儀。

雙頻激光干涉儀激光干涉儀在氦氖激光器上，加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應, 激光器產(chǎn)生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經(jīng)1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經(jīng)分光鏡分為兩路。一路經(jīng)偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經(jīng)偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為*含有f1的光束,另一路成為*含有f2的光束。當可動反射鏡移動時,含有f2的光束經(jīng)可動反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束，Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應產(chǎn)生的附加頻率,正負號表示移動方向(多普勒效應是奧地利人C.J.多普勒提出的，即波的頻率在波源或接受器運動時會產(chǎn)生變化)。

干涉儀是一種使用干涉測量技術的光學計量儀器，其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息，從而獲得實驗所關心的物理量。以下是對干涉儀的詳細介紹：一、基本原理具有固定相位差的兩列準單色波的疊加將導致振幅發(fā)生變化，從而可以通過測量較容易測量的振幅來獲取波的相位信息。由于幅度變化依賴于相位差的余弦函數(shù)，這種幅度的變化有時候在空間表現(xiàn)為周期性的條紋，即干涉條紋?；緲嫵筛缮鎯x一般由光源、分束器、反射鏡、干涉屏（或檢測器）等組成。光源發(fā)出的光經(jīng)過分束器被分成兩束，分別經(jīng)由反射鏡反射回來，并在干涉屏（或檢測器）上產(chǎn)生干涉圖樣。其中，各元件的功能如下：和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。

截止***，激光干涉儀引力波探測器已經(jīng)發(fā)展了40余年。 目前LIGO激光干涉儀實驗宣稱***直接測量到了引力波 (LIGO collaboration 2016) [7]。 LIGO可以認為是兩路光線的干涉儀， 而另外一類引力波探測實驗， 脈沖星測時陣列則可認為是多路光線干涉儀（Hellings 和Downs, 1983） [8]。其他用作高分辨率光譜儀。法布里-珀**涉儀等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉極大，因而有極高的光譜分辨率，常用作光譜的精細結構和超精細結構分析。歷史上的作用。19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太?，F(xiàn)代的雙頻激光干涉儀測速普遍達到1m/s，有的甚至于十幾m/s，適于高速動態(tài)測量。江蘇本地雙頻激光干涉儀哪家強

接受信號為交流信號，前置放大器為高倍數(shù)的交流放大器，不用直流放大，故沒有零點漂移等問題。蘇州安裝雙頻激光干涉儀選擇

邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實現(xiàn)干涉。通過調(diào)整該干涉儀，可以產(chǎn)生等厚干涉條紋，也可以產(chǎn)生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]蘇州安裝雙頻激光干涉儀選擇

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