ICT測試不良及常見故障的分析方法：開路不良：所謂開路不良就是指在某一個(gè)短路群中，各個(gè)測試點(diǎn)之間本來應(yīng)該是短路，但卻出現(xiàn)了某個(gè)測試點(diǎn)對(duì)其所在短路群的其它測試點(diǎn)是開路的。出現(xiàn)開路不良的可能原因有如下幾個(gè)方面：(1)PCBOpen；(2)零件造成的；它又包括如下幾個(gè)方面：A．立件與漏件；B．空焊；C．零件不良。(3)測試點(diǎn)有問題A．探針未接觸到；B．測試點(diǎn)氧化；C．測試點(diǎn)有東西擋??；D．測試點(diǎn)在防焊區(qū)。有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測試效率。ICT測試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法：T4表示板內(nèi)定位柱以及板外擋位柱。鄭州在線ICT自動(dòng)化測試治具廠家報(bào)價(jià)

功能測試治具和ICT測試治具的區(qū)別，應(yīng)用場景不同，功能測試治具主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測量、壓力測量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測試項(xiàng)目。而ICT測試治具它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，成批量的板子，附加值高且定型的板子，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測試。制作原理不同，功能測試治具的主要考慮工件的定位、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測試；而ICT測試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中的網(wǎng)絡(luò)(NET)就是PCB走線，全部引出來，達(dá)到外部來用儀器測試其內(nèi)部是電路結(jié)構(gòu)即可。其實(shí)不管是功能測試治具還是ICT測試治具都是測試治具下的一個(gè)分類，使用他們的目的都是一樣的，為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量和降低生產(chǎn)產(chǎn)品不良率。鄭州ICT儀器銷售公司老化ICT測試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)。

ICT設(shè)備測試的基本知識(shí)：電腦部分就是一臺(tái)普通的PC機(jī)，用其windows操作系統(tǒng)完成與測試軟件的接口和在顯示器上顯示、打印、統(tǒng)計(jì)等功能。測試電路分控制電路和開關(guān)電路?？刂齐娐肥强刂茖?duì)相應(yīng)的元器件測試其參數(shù)。電阻測試其阻值，電容測試其容量，電感測其電感量等。開關(guān)電路是接通需測試的相應(yīng)元器件，由繼電器或CMOS半體開關(guān)組成。電容插反可以通過圖像識(shí)別或者ICT檢測出來：對(duì)于有極性的電容，比如電解電容、鉭電容等，是不允許插反的，插反上電，很快就會(huì)失效，甚至炸裂。

常見的測試治具有哪些？1、ICT測試治具：ICT測試治具是對(duì)在線元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備。ICT測試治具是生產(chǎn)中初道測試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，ICT測試治具具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，同時(shí)維修方便從而為客戶提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。2、老化測試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)，即進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，判斷產(chǎn)品的使用壽命是否符合規(guī)定的期限的一種治具，稱作老化測試治具。選用探針主要是根據(jù)ICT治具線路板的中心距和被測點(diǎn)的形狀而定。

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng)，一、測試點(diǎn)的選取:1、盡量避免治具雙面下針，較好將被測點(diǎn)放在同一面。2、被測點(diǎn)選取優(yōu)先順序：測試點(diǎn)Testpoint–DIP元件腳–VIA過孔–SMT貼片腳二、測試點(diǎn)：1、兩被測點(diǎn)或被測點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距較好不小于0.050＂(1.27mm)。以大于0.100＂(2.54mm)為佳，其次是0.075＂(1.905mm)。2、被測點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少0.100＂，如為高于3m/m零件，則應(yīng)至少間距0.120＂。3、被測點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB表面，避免局部密度過高。4、被測點(diǎn)直徑較好能不小于0.035＂(0.9mm)，如在上針板，則較好不小于0.040＂(1.00mm)，5、形狀以正方形較佳(可測面積較圓形增加21%)。小于0.030＂之被測點(diǎn)需額外加，以導(dǎo)正目標(biāo)。6、被測點(diǎn)的Pad及Via不應(yīng)有防焊漆(SolderMask)。ict測試治具的工作原理：主要是靠測試探針接觸PCB出來的測試點(diǎn)來檢測PCB的線路。鄭州ICT儀器銷售公司

ICT測試點(diǎn)的要求有測點(diǎn)焊盤的中心間距至少為50mil，若能達(dá)到75mil或以上則可以降低治具成本。鄭州在線ICT自動(dòng)化測試治具廠家報(bào)價(jià)

ICT測試治具測試是如何讀取時(shí)間的?ICT測試治具是一種具有檢測功能的產(chǎn)品，能減少維修人員與目視人員的數(shù)量，降低技術(shù)要求，材料與資源的節(jié)省，很大降低生產(chǎn)成本。現(xiàn)在我們來介紹下ICT測試治具測試是如何讀取時(shí)間的?詳細(xì)內(nèi)容如下：ICT測試治具可以直接對(duì)在線器件電氣性能來進(jìn)行測試，在測試的過程中可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良器件。從內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)所需的時(shí)間，就是ICT測試治具的存儲(chǔ)器讀取時(shí)間，方法是這樣的：1、往單元A寫入數(shù)據(jù)"0"，單元B寫入數(shù)據(jù)"1"，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。2、地址轉(zhuǎn)換到單元B，實(shí)質(zhì)上就是ICT測試治具丈量內(nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間。3、轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間。4、暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它狀態(tài)的時(shí)間。5、刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的允許時(shí)間。6、建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必需提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。7、堅(jiān)持時(shí)間--鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必需堅(jiān)持的時(shí)間。8、寫入恢復(fù)時(shí)間--寫操作之后的能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間。選擇ICT測試治具來進(jìn)行測試處理能夠在短短幾秒內(nèi)測出整塊電路板的好壞，并告知您它壞在哪個(gè)區(qū)域及哪個(gè)零件，快速解決生產(chǎn)制成問題。鄭州在線ICT自動(dòng)化測試治具廠家報(bào)價(jià)