常見的測試治具有哪些？1、鉆孔治具：鉆孔治具是一種可借由移動模具以導(dǎo)引麻花鉆孔設(shè)備或其他鉆孔裝置到每個洞的準確中心位置，并可在多個可互換零件上加速反復(fù)在洞孔中心定位的治具類型，主要應(yīng)用于制造業(yè)這些地方，如CNC機床，具有自動移動工具到正確位置，提高設(shè)備精度度等特點。2、功能測試治具：功能測試治具是一種用來測試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個工序，以此來判斷被測對象是否達到了初始設(shè)計者目的的機械輔助設(shè)備，主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲器、RF和電源電路等領(lǐng)域，適用于產(chǎn)品生產(chǎn)過程中及出貨時功能檢測，有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測試效率。ICT測試治具根據(jù)電路板的機械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測試點的位置打孔。濟南ICT治具

加過電的板子對ICT有機器或者治具有什么直接的影響嗎?加過電的板子：比如經(jīng)過FCT測試后板子，PCBA上都會帶有電量（尤其體現(xiàn)在電路板上的大電容）如果直接再次上ICT上測試的話，有可能會出現(xiàn)擊穿開關(guān)板；所以加過電的板子在做ICT前盡量先對其放電。放電方式：1、通過放電板來放電；2、在設(shè)備軟件測試步里面加放電步。測試治具可以測試出產(chǎn)品的好壞，電子產(chǎn)品批量進行生產(chǎn)其中必有一些不合格的產(chǎn)品，廠家如需快速的把這些產(chǎn)品挑選出來就需使用到測試治具。電子產(chǎn)品有各種各樣的性能，不同的性能測試用到的治具也會不一樣。就現(xiàn)在市場看來很多廠家開始使用治具生產(chǎn)線，產(chǎn)品一邊生產(chǎn)一邊檢測很大程度提高了廠家的生產(chǎn)效率。重慶ICT儀器品牌ICT測試治具能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量。

ICT在線測試治具的技術(shù)應(yīng)用，由于現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展，ICT在線測試儀的技術(shù)也得到了很大的提升，使得其普遍的應(yīng)用到現(xiàn)代電子儀器的檢測當(dāng)中，ICT在線測試儀主要是對組裝電路板進行測試，可以在不斷開電路的情況下能夠?qū)x器進行測試介紹了新的技術(shù)有非矢量技術(shù)，以及邊界掃描技術(shù)，以及對整個系統(tǒng)進行功能測試，并與針床式在線測試進行了分析比較，指出了其各自的適用領(lǐng)域。具體內(nèi)容下面詳細分析。線測驗儀測驗其作業(yè)辦法主要指元器件在線路上。在線測驗是一種不斷開電路，不拆下元器件管腳的測驗技能，“在線”反映了ICT重在經(jīng)過對在線路上的元器件或開短路狀況的測驗來查看電路板的拼裝疑問。電氣測驗運用的根本儀器是在線測驗儀（ICT），根本的ICT近年來跟著戰(zhàn)勝先進技能限制的技能而改善。

ICT測試原理：1)跳線測試：跳線是跨接印制板做連線用的，只有通斷兩種情況。測試其電阻阻值就可以判斷好壞。測試方法和測試電阻是相同的。2)IC測試：一般地講，對IC只測試其引腳是否會有連焊、虛焊的情況，至于IC內(nèi)部性能如何是無法測試出來的。測試方法是將IC的各引腳對電源VCC引腳的正反向電壓測試一遍，再將各引腳對IC接地端GND引腳的正反向電壓測試一遍。與正常值進行比較，有不正常的可以判斷該引腳連焊或虛焊。有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測試效率。ICT測試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機種，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)。

導(dǎo)致ICT測試冶具測試不良的原因分析：IC空焊不良（以TestJet測試）測試值偏小，可能原因：1）IC的此腳空焊；2）測試針接觸不良；3）從測試點至IC腳之間Open。4）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）；測試值偏大，可能原因：1）有短路現(xiàn)象；2）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）。4．元器件不良，測試值偏差超差比較小，則可能原因：1）器件本身的偏差就這么大；2）ICT測試冶具測試針的接觸電阻較大；3）錯件、焊接不良、反裝。測試值偏差超差比較大，則可能原因：1）器件壞掉；2）測試針壞掉（與該針相連的器件均超差比較大）3）測試點上有松香等絕緣物品；4）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。5）錯件、漏件、反裝；6）器件焊接不良。ICT測試點的要求有測試點不能被遮擋、覆蓋，焊盤中心距離器件外框至少120mil。濟南ICT治具

ICT測試是工廠測試過程中的道測試工序，對于工廠產(chǎn)品質(zhì)量的提高有很大的影響。濟南ICT治具

導(dǎo)致ICT測試冶具測試不良的原因分析：ICT測試冶具在使用過程中有時候會出現(xiàn)不良現(xiàn)象，那么到底是哪些因素導(dǎo)致的呢？我們一起來分析一下。1．短路不良（短路不良要先處理，而開路不良常常由于探針接觸不良所致）短路不良指兩個點（不在同一短路群內(nèi)，即本來應(yīng)該大于25Ω（或25-55Ω））的電阻小于5Ω（或5-15Ω），可以用萬用表在PCB上的測試點上進行驗證；可能原因：1）連焊（應(yīng)該在兩個NET相關(guān)的焊接點上尋找）；2）錯件，多裝器件；3）繼電器、開關(guān)或變阻器的位置有變化；4）測試針接觸到別的器件；5）PCB上銅箔之間短路。濟南ICT治具