傳輸線的端接通常采用2種策略：使負(fù)載阻抗與傳輸線阻抗匹配，即并行端接；使源阻抗與傳輸線阻抗匹配，即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負(fù)載端的位置接上拉或下拉阻抗，以實(shí)現(xiàn)終端的阻抗匹配，根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境，并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類(lèi)型。(2)串行端接串行端接是通過(guò)在盡量靠近源端的位置串行插入一個(gè)電阻到傳輸線中來(lái)實(shí)現(xiàn)，串行端接是匹配信號(hào)源的阻抗，所插入的串行電阻阻值加上驅(qū)動(dòng)源的輸出阻抗應(yīng)大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過(guò)使源端反射系數(shù)為零，從而壓制從負(fù)載反射回來(lái)的信號(hào)(負(fù)載端輸入高阻，不吸收能量)再?gòu)脑炊朔瓷浠刎?fù)載端。不同工藝器件的端接技術(shù)阻抗匹配與端接技術(shù)方案隨著互聯(lián)長(zhǎng)度、電路中邏輯器件系列的不同，也會(huì)有所不同。只有針對(duì)具體情況，使用正確、適當(dāng)?shù)亩私臃椒ú拍苡行У販p少信號(hào)反射。一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于一個(gè)CMOS工藝的驅(qū)動(dòng)源，其輸出阻抗值較穩(wěn)定且接近傳輸線的阻抗值，因此對(duì)于CMOS器件使用串行端接技術(shù)就會(huì)獲得較好的效果；而TTL工藝的驅(qū)動(dòng)源在輸出邏輯高電平和低電平時(shí)其輸出阻抗有所不同。這時(shí)，使用并行戴維寧端接方案則是一個(gè)較好的策略；ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。需要專(zhuān)業(yè)PCB設(shè)計(jì)與生產(chǎn)的廠家？看這里！價(jià)格優(yōu)惠，服務(wù)好！廣東電源pcb廠家批發(fā)價(jià)

能夠讓測(cè)試用的探針觸碰到這種小一點(diǎn)，而無(wú)需直接接觸到這些被測(cè)量的電子零件。初期在電路板上面還全是傳統(tǒng)式軟件（DIP）的時(shí)代，確實(shí)會(huì)拿零件的焊孔來(lái)作為測(cè)試點(diǎn)來(lái)用，由于傳統(tǒng)式零件的焊孔夠健壯，不害怕針刺，但是常常會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的錯(cuò)判情況產(chǎn)生，由于一般的電子零件歷經(jīng)波峰焊機(jī)（wavesoldering）或者SMT吃錫以后，在其焊錫絲的表層一般都是會(huì)產(chǎn)生一層助焊膏助焊劑的殘余塑料薄膜，這層塑料薄膜的特性阻抗十分高，經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致探針的接觸不良現(xiàn)象，因此那時(shí)候常常由此可見(jiàn)生產(chǎn)線的測(cè)試操作工，常常拿著氣體噴漆拼了命的吹，或者拿酒精擦拭這種必須測(cè)試的地區(qū)。實(shí)際上歷經(jīng)波峰焊機(jī)的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的難題。之后SMT風(fēng)靡以后，測(cè)試錯(cuò)判的情況就獲得了非常大的改進(jìn)，測(cè)試點(diǎn)的運(yùn)用也被較高的地授予重?fù)?dān)，由于SMT的零件一般很敏感，沒(méi)法承擔(dān)測(cè)試探針的立即接觸壓力，應(yīng)用測(cè)試點(diǎn)就可以無(wú)需讓探針直接接觸到零件以及焊孔，不只維護(hù)零件不受傷，也間接性較高的地提高測(cè)試的靠譜度，由于錯(cuò)判的情況越來(lái)越少了。但是伴隨著高新科技的演變，線路板的規(guī)格也愈來(lái)愈小，小小的地電路板上面光源要擠下這么多的電子零件都早已一些費(fèi)勁了。河南開(kāi)關(guān)pcb銷(xiāo)售電話專(zhuān)業(yè)提供PCB設(shè)計(jì)版圖服務(wù),經(jīng)驗(yàn)豐富,24小時(shí)出樣，收費(fèi)合理,值得選擇!

合理進(jìn)行電路建模仿真是較常見(jiàn)的信號(hào)完整性解決方法，在高速電路設(shè)計(jì)中，仿真分析越來(lái)越顯示出優(yōu)越性。它給設(shè)計(jì)者以準(zhǔn)確、直觀的設(shè)計(jì)結(jié)果，便于及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，及時(shí)修改，從而縮短設(shè)計(jì)時(shí)間，降低設(shè)計(jì)成本。常用的有3種：SPICE模型，IBIS模型，Verilog-A模型。SPICE是一種功能強(qiáng)大的通用模擬電路仿真器。它由兩部分組成：模型方程式(ModelEquation)和模型參數(shù)(ModelParameters)。由于提供了模型方程式，因而可以把SPICE模型與仿真器的算法非常緊密地連接起來(lái)，可以獲得更好的分析效率和分析結(jié)果；IBIS模型是專(zhuān)門(mén)用于PCB板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的數(shù)字信號(hào)完整性分析的模型。它采用I/V和V/T表的形式來(lái)描述數(shù)字集成電路I/O單元和引腳的特性，IBIS模型的分析精度主要取決于1/V和V/T表的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)和數(shù)據(jù)的精確度，與SPICE模型相比，IBIS模型的計(jì)算量很小。

接下去文中將對(duì)PCI-ELVDS信號(hào)走線時(shí)的常見(jiàn)問(wèn)題開(kāi)展小結(jié)：PCI-E差分線走線標(biāo)準(zhǔn)（1）針對(duì)裝卡或擴(kuò)展槽而言，從火紅金手指邊沿或是擴(kuò)展槽管腳到PCI-ESwitch管腳的走線長(zhǎng)度應(yīng)限定在4英寸之內(nèi)。此外，遠(yuǎn)距離走線應(yīng)當(dāng)在PCB上走斜杠。（2）防止參照平面圖的不持續(xù)，例如切分和間隙。（3）當(dāng)LVDS信號(hào)線轉(zhuǎn)變層時(shí)，地信號(hào)的焊盤(pán)宜放得挨近信號(hào)過(guò)孔，對(duì)每對(duì)信號(hào)的一般規(guī)定是**少放1至3個(gè)地信號(hào)過(guò)孔，而且始終不必讓走線越過(guò)平面圖的切分。（4）應(yīng)盡量減少走線的彎折，防止在系統(tǒng)軟件中引進(jìn)共模噪音，這將危害差分對(duì)的信號(hào)一致性和EMI。全部走線的彎折視角應(yīng)當(dāng)高于或等于135度，差分對(duì)走線的間隔維持50mil之上，彎折產(chǎn)生的走線**短應(yīng)當(dāng)超過(guò)。當(dāng)一段環(huán)形線用于和此外一段走線來(lái)開(kāi)展長(zhǎng)度匹配，如圖2所顯示，每段長(zhǎng)彎曲的長(zhǎng)度務(wù)必**少有15mil（3倍于5mil的圖形界限）。環(huán)形線彎曲一部分和差分線的另一條線的**大間距務(wù)必低于一切正常差分線距的2倍。環(huán)形走線（5）差分對(duì)中兩根手機(jī)充電線的長(zhǎng)度差別需要在5mil之內(nèi)，每一部分都規(guī)定長(zhǎng)度匹配。在對(duì)差分線開(kāi)展長(zhǎng)度匹配時(shí)，匹配設(shè)計(jì)方案的部位應(yīng)當(dāng)挨近長(zhǎng)度不匹配所屬的部位，如圖所示3所顯示。但對(duì)傳送對(duì)和接受對(duì)的長(zhǎng)度匹配沒(méi)有做實(shí)際規(guī)定。還在為PCB設(shè)計(jì)版圖而煩惱？幫您解決此困擾！出樣速度快，價(jià)格優(yōu)惠，歡迎各位老板電話咨詢！

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當(dāng)一塊PCB板完成了布局布線，并且檢查了連通性和間距都沒(méi)有發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的情況下，一塊PCB是不是就完成了呢？答案當(dāng)然是否定的。很多初學(xué)者，甚至包括一些有經(jīng)驗(yàn)的工程師，由于時(shí)間緊或者不耐煩亦或者過(guò)于自信，往往會(huì)草草了事，忽略了后期檢查，結(jié)果出現(xiàn)了一些很低級(jí)的BUG，比如線寬不夠、元件標(biāo)號(hào)絲印壓在過(guò)孔上、插座靠得太近、信號(hào)出現(xiàn)環(huán)路等等，導(dǎo)致電氣問(wèn)題或者工藝問(wèn)題，嚴(yán)重的要重新打板，造成浪費(fèi)。所以，當(dāng)一塊PCB完成了布局布線之后，后期檢查是一個(gè)很重要的步驟。PCB的檢查包含很多細(xì)節(jié)要素，現(xiàn)在整理了認(rèn)為較基本并且較容易出錯(cuò)的要素，以便在后期檢查時(shí)重點(diǎn)關(guān)注。1.原件封裝2.布局3.布線。廣東電源pcb廠家批發(fā)價(jià)

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