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接觸電阻即探針尖與焊點之間接觸時的層間電阻。通常不能給出具體的指標，因為實際的接觸電阻比較難測量。一般，信號路徑電阻被用來替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關。在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。在實際使用中，探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點的材料、清洗的次數(shù)、以及探針的狀況，而且它同標稱值相差較多。探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。揚州探針供應商家現(xiàn)有的探針頭...

鎢熔點高(3683℃±20℃)，電子發(fā)射能力強，彈性模量高，蒸氣壓低，故比較早就被用作熱電子發(fā)射材料。純金屬鎢極的發(fā)射效率比較低，且在高溫下再結晶形成等軸狀晶粒組織而使鎢絲下垂、斷裂。為克服上述缺點，適應現(xiàn)代工業(yè)新技術、新工藝的發(fā)展，各國材料工作者正致力于研究和開發(fā)各種新型電極材料。以鎢為基摻雜一些電子逸出功低的稀土氧化物，既能提高再結晶溫度，又能啟動電子發(fā)射。稀土金屬氧化物具有優(yōu)良的熱電子發(fā)射能力，稀土鎢電極材料一直是替代傳統(tǒng)放射性釷鎢電極材料的開發(fā)方向。我們的探針在導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。徐州現(xiàn)代化探針定做價格掃描隧道顯微鏡是一種利用具有原...

觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區(qū)域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。此外，探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質上來說，隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層，這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強，接觸電阻逐漸降低，終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。我們的探針在導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和...

觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區(qū)域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。此外，探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質上來說，隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層，這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強，接觸電阻逐漸降低，終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大...

錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium)，直徑是0.05-0.1mm不等，針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點，其硬度/抗勞性佳，穩(wěn)定度佳，適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求，提供國產或日本鎢材料，T長均勻，針尖采用研磨處理，中心居正，針尖長度細長，飽滿，壽命長。這種探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強度高和彈性模量，產品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。探針具有用于測量半導體材料、功能材料、導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學組成進行定性或定...

錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium)，直徑是0.05-0.1mm不等，針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點，其硬度/抗勞性佳，穩(wěn)定度佳，適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求，提供國產或日本鎢材料，T長均勻，針尖采用研磨處理，中心居正，針尖長度細長，飽滿，壽命長。這種探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強度高和彈性模量，產品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。探針具有用于測量半導體材料、功能材料、導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學組成進行定性或定...

錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium)，直徑是0.05-0.1mm不等，針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點，其硬度/抗勞性佳，穩(wěn)定度佳，適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求，提供國產或日本鎢材料，T長均勻，針尖采用研磨處理，中心居正，針尖長度細長，飽滿，壽命長。這種探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強度高和彈性模量，產品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。探針具有用于測量半導體材料、功能材料、導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。我們的探針在導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械...