差壓檢漏法差壓檢漏法的原理啟蒙于醫(yī)用天平,它是精確測量微量物品質(zhì)量的測量工具。使用者通過仔細(xì)調(diào)整天平一端的砝碼使兩端達(dá)到嚴(yán)格平衡,這樣被測物的質(zhì)量就可通過砝碼反映出來。差壓氣密檢漏儀的原理同天平一樣,首先我們將相同壓力的氣體同時(shí)充入到被測物和基準(zhǔn)物內(nèi),使差壓傳...
標(biāo)準(zhǔn)漏孔是專門用于測量校驗(yàn)檢漏儀或檢漏系統(tǒng)中的靈敏度或者精度,標(biāo)準(zhǔn)漏孔可以和檢漏儀或檢漏系統(tǒng)平行連接,檢漏儀檢漏系統(tǒng)能夠識(shí)別到標(biāo)準(zhǔn)漏孔上的標(biāo)稱泄漏量,即可簡單、快速的來判定檢漏系統(tǒng)的狀態(tài)。標(biāo)準(zhǔn)漏孔一般為抗震抗摔、不易堵塞、漏率穩(wěn)定、可重復(fù)利用充氣等優(yōu)點(diǎn),標(biāo)準(zhǔn)漏...
標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率換算:1mbar.L/sec = 0.1Pa.m3/sec = 1/1.013atm.cc/sec = 0.987std.cc/sec(標(biāo)準(zhǔn)體積) = 59.23scc/min、1mbar.L/sec ≈ 1cc/sec, 直觀的來說, 1mba...
正壓漏率與真空漏率:正壓漏率是指泄漏到大氣的漏率,真空漏率是泄漏到真空的漏率。漏孔漏率包含分子流與粘滯流,其中分子流與壓力差成正比,粘滯流與壓力平方差成正比。一般來說,對于同一個(gè)漏孔,內(nèi)部壓力>10Bar,正壓漏率≈真空漏率。漏孔壓力與漏率衰減計(jì)算:10-...
蘭州510所建立了國內(nèi)測量范圍較寬,不確定度較小的正壓漏率校準(zhǔn)裝置。計(jì)量院在2010年前后也搭建了一套試驗(yàn)用正壓漏孔校準(zhǔn)裝置。并與今年正式立項(xiàng)建立正壓漏孔校準(zhǔn)裝置,涵蓋了專題中第二,三種正壓漏孔的校準(zhǔn)。上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院在2004年建立國內(nèi)一套正常開展量...
10-7Pa·m3/s量級(jí)以下的漏孔,在正常情況下是不需要關(guān)閉出口閥門的,但是由于客戶不清楚漏孔的一些結(jié)構(gòu),通常會(huì)關(guān)閉閥門。對于滲氦型漏孔,如果長時(shí)間關(guān)閉閥門會(huì)積攢一定的氦氣,使得滲透元件的邊界條件遭到破壞,使用時(shí)短時(shí)間內(nèi)漏率值便會(huì)偏大,打開閥門經(jīng)過一段時(shí)間(...
氦氣真空漏孔的溯源國內(nèi)開展的比較早也相對成熟一些,各級(jí)標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)建立,檢定規(guī)程或校準(zhǔn)規(guī)范也早已頒布。但對其他氣體的校準(zhǔn)還需要完善,并需要對不帶氦氣室漏孔校準(zhǔn)方法和規(guī)范內(nèi)容需要增加氣源方式和要求。該部分標(biāo)準(zhǔn)漏孔量值溯源標(biāo)準(zhǔn)包括相對比較法漏率校準(zhǔn)裝置。應(yīng)為裝置成本和...
正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,在正壓檢漏中,要考慮通過漏孔的質(zhì)量泄漏,更要考慮與環(huán)境的熱能交換。換言之,就是正壓檢漏及正壓漏孔校準(zhǔn)受溫度的影響較為嚴(yán)重。而真空檢漏壓力一般在1Pa及以下,受溫度影響小。正壓檢漏往往需要在不同的壓力條件下進(jìn)行,所以也必須對正壓漏孔在該條件下進(jìn)行校...
正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,在正壓檢漏中,要考慮通過漏孔的質(zhì)量泄漏,更要考慮與環(huán)境的熱能交換。換言之,就是正壓檢漏及正壓漏孔校準(zhǔn)受溫度的影響較為嚴(yán)重。而真空檢漏壓力一般在1Pa及以下,受溫度影響小。正壓檢漏往往需要在不同的壓力條件下進(jìn)行,所以也必須對正壓漏孔在該條件下進(jìn)行校...
氦氣真空漏孔的溯源國內(nèi)開展的比較早也相對成熟一些,各級(jí)標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)建立,檢定規(guī)程或校準(zhǔn)規(guī)范也早已頒布。但對其他氣體的校準(zhǔn)還需要完善,并需要對不帶氦氣室漏孔校準(zhǔn)方法和規(guī)范內(nèi)容需要增加氣源方式和要求。該部分標(biāo)準(zhǔn)漏孔量值溯源標(biāo)準(zhǔn)包括相對比較法漏率校準(zhǔn)裝置。應(yīng)為裝置成本和...
差壓檢漏法差壓檢漏法的原理啟蒙于醫(yī)用天平,它是精確測量微量物品質(zhì)量的測量工具。使用者通過仔細(xì)調(diào)整天平一端的砝碼使兩端達(dá)到嚴(yán)格平衡,這樣被測物的質(zhì)量就可通過砝碼反映出來。差壓氣密檢漏儀的原理同天平一樣,首先我們將相同壓力的氣體同時(shí)充入到被測物和基準(zhǔn)物內(nèi),使差壓傳...
差壓檢漏法差壓檢漏法的原理啟蒙于醫(yī)用天平,它是精確測量微量物品質(zhì)量的測量工具。使用者通過仔細(xì)調(diào)整天平一端的砝碼使兩端達(dá)到嚴(yán)格平衡,這樣被測物的質(zhì)量就可通過砝碼反映出來。差壓氣密檢漏儀的原理同天平一樣,首先我們將相同壓力的氣體同時(shí)充入到被測物和基準(zhǔn)物內(nèi),使差壓傳...
檢漏儀內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)漏孔的優(yōu)點(diǎn)是漏率穩(wěn)定:檢漏儀自帶的滲氦漏孔,溫度系數(shù)一般為3.0%~4.0%/℃,由于天氣原因不同的溫差,以及檢漏儀內(nèi)部開機(jī)前后內(nèi)部相對封閉環(huán)境的溫度變化等,均會(huì)對漏孔的漏率影響相對較大,而且滲氦漏孔的穩(wěn)定時(shí)間非常長,通常來說是需要幾個(gè)小時(shí)的,這...
10-7Pa·m3/s量級(jí)以下的漏孔,在正常情況下是不需要關(guān)閉出口閥門的,但是由于客戶不清楚漏孔的一些結(jié)構(gòu),通常會(huì)關(guān)閉閥門。對于滲氦型漏孔,如果長時(shí)間關(guān)閉閥門會(huì)積攢一定的氦氣,使得滲透元件的邊界條件遭到破壞,使用時(shí)短時(shí)間內(nèi)漏率值便會(huì)偏大,打開閥門經(jīng)過一段時(shí)間(...
航空航天領(lǐng)域?qū)γ芊庑阅芤髽O高,標(biāo)準(zhǔn)漏孔在此類場景中用于校準(zhǔn)航天器密封件檢漏設(shè)備,確保燃料艙、艙體等關(guān)鍵部件無泄漏,確保飛行安全與任務(wù)順利執(zhí)行。在醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域,標(biāo)準(zhǔn)漏孔用于校準(zhǔn)氧艙的檢漏儀器,確保艙體密封性能達(dá)標(biāo),避免氧氣泄漏引發(fā)安全問題,是確?;颊甙踩闹匾?..
標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率換算:1mbar.L/sec = 0.1Pa.m3/sec = 1/1.013atm.cc/sec = 0.987std.cc/sec(標(biāo)準(zhǔn)體積) = 59.23scc/min、1mbar.L/sec ≈ 1cc/sec, 直觀的來說, 1mba...
氦氣真空漏孔的溯源國內(nèi)開展的比較早也相對成熟一些,各級(jí)標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)建立,檢定規(guī)程或校準(zhǔn)規(guī)范也早已頒布。但對其他氣體的校準(zhǔn)還需要完善,并需要對不帶氦氣室漏孔校準(zhǔn)方法和規(guī)范內(nèi)容需要增加氣源方式和要求。該部分標(biāo)準(zhǔn)漏孔量值溯源標(biāo)準(zhǔn)包括相對比較法漏率校準(zhǔn)裝置。應(yīng)為裝置成本和...
可調(diào)通道型漏孔是一種具有特定技術(shù)、規(guī)格和特點(diǎn)的漏孔,?它是屬于實(shí)漏型漏孔,?可調(diào)通道型其漏孔元件是通過物理節(jié)流形成的漏氣通道。?這種漏孔能夠通過所有氣體成分,?因此在使用時(shí)需要使用純氣體以獲得所需氣體的漏率。?可調(diào)通道型漏孔產(chǎn)品的應(yīng)用:氦質(zhì)譜檢漏真空和正壓吸法...
氦質(zhì)譜檢漏儀的工作原理是對離子源電離的氦氣分子數(shù)量進(jìn)行量化,而到達(dá)質(zhì)譜室離子源的氦氣分子數(shù)量只是泄漏的分子總量的一部分,這就是分流比。在環(huán)境參數(shù)變化時(shí),這個(gè)分流比會(huì)有變化,檢漏儀根據(jù)內(nèi)置漏孔1個(gè)點(diǎn)做出的擬合曲線很難做到符合全量程:例如一臺(tái)檢漏儀的內(nèi)置漏孔是E-...
標(biāo)準(zhǔn)漏孔的運(yùn)輸過程需要避免劇烈震動(dòng)和碰撞,防止內(nèi)部結(jié)構(gòu)變形。部分精密漏孔會(huì)采用防震包裝,并標(biāo)注 “輕放” 標(biāo)識(shí),以減少運(yùn)輸對其性能的潛在影響。氣體壓力差是標(biāo)準(zhǔn)漏孔工作的必要條件,通常需在漏孔兩側(cè)建立穩(wěn)定的壓力環(huán)境。壓力波動(dòng)過大會(huì)導(dǎo)致泄漏率不穩(wěn)定,因此實(shí)際應(yīng)用中...
冷媒標(biāo)準(zhǔn)漏孔(可調(diào)漏率)VTL-20B型 ,漏孔元件為微通道毛細(xì)管,其漏率或校準(zhǔn)精度0.1g/a,漏率范圍:(0~10)g/a,支持客戶指定漏率或年泄漏量定制,如1g/a,2.5g/a,5g/a,…,也可以指定其他漏率單位, 如Pa·m3/s(≥5×10-6 ...
標(biāo)準(zhǔn)漏孔的運(yùn)輸過程需要避免劇烈震動(dòng)和碰撞,防止內(nèi)部結(jié)構(gòu)變形。部分精密漏孔會(huì)采用防震包裝,并標(biāo)注 “輕放” 標(biāo)識(shí),以減少運(yùn)輸對其性能的潛在影響。氣體壓力差是標(biāo)準(zhǔn)漏孔工作的必要條件,通常需在漏孔兩側(cè)建立穩(wěn)定的壓力環(huán)境。壓力波動(dòng)過大會(huì)導(dǎo)致泄漏率不穩(wěn)定,因此實(shí)際應(yīng)用中...
檢漏方法:人們對于泄漏的檢測很早就已經(jīng)出現(xiàn),檢漏方法也經(jīng)歷了從簡單的定性檢測到現(xiàn)代復(fù)雜的定量檢測過程。檢漏方法根據(jù)被檢設(shè)備所處的狀態(tài)又可分為加壓檢漏法和真空檢漏法。加壓檢漏法將被檢件內(nèi)部充以比外部壓力更高的示蹤氣體,在被檢件外面用適當(dāng)?shù)姆椒ㄅ袛嘤袩o示蹤氣體漏出...
檢漏技術(shù)發(fā)展前景:目前,我們掌握的檢漏技術(shù)是完全可以滿足我們的生產(chǎn)需要的,對于檢漏儀的發(fā)展,更多的是向智能化、模塊化、集成化方向發(fā)展。隨著加工技術(shù)的進(jìn)步和集成電路技術(shù)的發(fā)展,檢漏儀日趨輕便,甚至微型化。通訊技術(shù)的發(fā)展也使得對泄漏的狀態(tài)監(jiān)測成為可能,為了及時(shí)發(fā)現(xiàn)...
10-7Pa·m3/s量級(jí)以下的漏孔,在正常情況下是不需要關(guān)閉出口閥門的,但是由于客戶不清楚漏孔的一些結(jié)構(gòu),通常會(huì)關(guān)閉閥門。對于滲氦型漏孔,如果長時(shí)間關(guān)閉閥門會(huì)積攢一定的氦氣,使得滲透元件的邊界條件遭到破壞,使用時(shí)短時(shí)間內(nèi)漏率值便會(huì)偏大,打開閥門經(jīng)過一段時(shí)間(...
正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,在正壓檢漏中,要考慮通過漏孔的質(zhì)量泄漏,更要考慮與環(huán)境的熱能交換。換言之,就是正壓檢漏及正壓漏孔校準(zhǔn)受溫度的影響較為嚴(yán)重。而真空檢漏壓力一般在1Pa及以下,受溫度影響小。正壓檢漏往往需要在不同的壓力條件下進(jìn)行,所以也必須對正壓漏孔在該條件下進(jìn)行校...
零流量閥門標(biāo)準(zhǔn)漏孔,自研手動(dòng)一體化設(shè)計(jì)閥門,零泄漏氣室小、衰減小,微通道漏孔(E-3~E-10)Pa·m3/s,特點(diǎn):適合大漏率、高真空、四級(jí)質(zhì)譜等、適合昂貴氣體、保證氣體純度的場景、很多年不用充氣、不使用時(shí)一定要關(guān)閉閥門,用途:可能用于真空系統(tǒng)或相關(guān)設(shè)備的校...
正壓漏率與真空漏率:正壓漏率是指泄漏到大氣的漏率,真空漏率是泄漏到真空的漏率。漏孔漏率包含分子流與粘滯流,其中分子流與壓力差成正比,粘滯流與壓力平方差成正比。一般來說,對于同一個(gè)漏孔,內(nèi)部壓力>10Bar,正壓漏率≈真空漏率。漏孔壓力與漏率衰減計(jì)算:10-...
航空航天領(lǐng)域?qū)γ芊庑阅芤髽O高,標(biāo)準(zhǔn)漏孔在此類場景中用于校準(zhǔn)航天器密封件檢漏設(shè)備,確保燃料艙、艙體等關(guān)鍵部件無泄漏,確保飛行安全與任務(wù)順利執(zhí)行。在醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域,標(biāo)準(zhǔn)漏孔用于校準(zhǔn)氧艙的檢漏儀器,確保艙體密封性能達(dá)標(biāo),避免氧氣泄漏引發(fā)安全問題,是確?;颊甙踩闹匾?..
標(biāo)準(zhǔn)漏孔的使用溫度范圍需要與檢漏設(shè)備相匹配,如果漏孔的最高耐受溫度低于設(shè)備工作的溫度,可能會(huì)導(dǎo)致材料軟化或者結(jié)構(gòu)損壞,影響其性能的穩(wěn)定性。在汽車制造過程中,標(biāo)準(zhǔn)漏孔用于校準(zhǔn)燃油系統(tǒng)、制動(dòng)系統(tǒng)的檢漏設(shè)備,以安全確保車輛關(guān)鍵部件的密封性能,減少因泄漏引發(fā)的故障風(fēng)險(xiǎn)...