在高濕度環(huán)境中，空氣里水汽含量增大，這對光學(xué)儀器而言，無疑是巨大的威脅。儀器內(nèi)部的鏡片猶如極易受潮的精密元件，當(dāng)水汽附著其上，便會在表面悄然形成一層輕薄且均勻的水膜。這層水膜宛如光線傳播的阻礙，大幅降低光線的透過率，致使成像亮度明顯減弱，對比度也隨之降低，觀測視野仿佛被蒙上一層朦朧的薄紗，原本清晰的景象變得模糊不清。倘若光學(xué)儀器長期處于這樣的高濕度環(huán)境，問題將愈發(fā)嚴(yán)重。水汽會逐漸滲透至鏡片與鏡筒的結(jié)合處，對金屬部件發(fā)起 “攻擊”，使之遭受腐蝕。隨著時(shí)間的推移，金屬部件被腐蝕得千瘡百孔，無法穩(wěn)固地固定鏡片，導(dǎo)致鏡片出現(xiàn)松動(dòng)現(xiàn)象，光路精度被進(jìn)一步破壞。對于那些運(yùn)用鍍膜技術(shù)來提升光學(xué)性能的鏡片，高濕度同樣是一大勁敵，它會使鍍膜層受損，鏡片的抗反射能力大打折扣，進(jìn)而嚴(yán)重影響成像效果，讓光學(xué)儀器難以發(fā)揮應(yīng)有的作用。針對一些局部溫度波動(dòng)精度要求比較高的區(qū)域，可以采用局部氣浴的控制方式，對局部進(jìn)行高精密溫控。質(zhì)譜儀溫濕度機(jī)組

我司憑借深厚的技術(shù)積累，自主研發(fā)出高精密控溫技術(shù)，精度高達(dá) 0.1% 的控制輸出。溫度波動(dòng)值可實(shí)現(xiàn)±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.005℃、±0.002℃等精密環(huán)境控制。該系統(tǒng)潔凈度可實(shí)現(xiàn)百級、十級、一級。關(guān)鍵區(qū)域 ±5mK（靜態(tài)）的溫度穩(wěn)定性，以及均勻性小于 16mK/m 的內(nèi)部溫度規(guī)格，為諸如芯片研發(fā)這類對溫度極度敏感的項(xiàng)目，打造了近乎完美的溫場環(huán)境，保障實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不受溫度干擾。同時(shí)，設(shè)備內(nèi)部濕度穩(wěn)定性可達(dá)±0.5%@8h，壓力穩(wěn)定性可達(dá)+/-3Pa，長達(dá) 144h 的連續(xù)穩(wěn)定工作更是讓長時(shí)間實(shí)驗(yàn)和制造無后顧之憂。在潔凈度方面，實(shí)現(xiàn)百級以上潔凈度控制，工作區(qū)潔凈度優(yōu)于 ISO class3，確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性，也保障了精密儀器的正常工作和使用壽命。離子束刻蝕機(jī)溫濕度預(yù)算其控制系統(tǒng)精細(xì)處理循環(huán)氣流各環(huán)節(jié)，確保柜內(nèi)溫濕度的超高精度控制。

芯片蝕刻時(shí)，刻蝕速率的均勻性對芯片電路完整性至關(guān)重要。溫度波動(dòng)如同 “蝴蝶效應(yīng)”，可能引發(fā)刻蝕過度或不足。精密環(huán)控柜穩(wěn)定的溫度控制，以及可達(dá) ±0.5%@8h 的濕度穩(wěn)定性，有效避免因環(huán)境因素導(dǎo)致的刻蝕異常，保障芯片蝕刻質(zhì)量。芯片沉積與封裝過程中，精密環(huán)控柜的超高水準(zhǔn)潔凈度控制發(fā)揮關(guān)鍵作用。其可實(shí)現(xiàn)百級以上潔凈度控制，內(nèi)部潔凈度優(yōu)于 ISO class3，杜絕塵埃顆粒污染芯片，防止水汽對芯片材料的不良影響，確保芯片沉積層均勻、芯片封裝可靠。

我司自主研發(fā)的高精密控溫技術(shù)，控制輸出精度達(dá) 0.1%，能精細(xì)掌控溫度變化。溫度波動(dòng)控制可選 ±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.005℃、±0.002℃等多檔，滿足嚴(yán)苛溫度需求。該系統(tǒng)潔凈度表現(xiàn)優(yōu)異，可達(dá)百級、十級、一級。關(guān)鍵區(qū)域靜態(tài)溫度穩(wěn)定性 ±5mK，內(nèi)部溫度均勻性小于 16mK/m，為芯片研發(fā)等敏感項(xiàng)目營造理想溫場，保障實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不受溫度干擾。濕度方面，8 小時(shí)內(nèi)穩(wěn)定性可達(dá) ±0.5%；壓力穩(wěn)定性為 +/-3Pa，設(shè)備還能連續(xù)穩(wěn)定工作 144 小時(shí)，助力長時(shí)間實(shí)驗(yàn)與制造。在潔凈度上，工作區(qū)潔凈度優(yōu)于 ISO class3，既確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確可靠，又保障精密儀器正常工作與使用壽命，推動(dòng)科研與生產(chǎn)進(jìn)步。高精密環(huán)控設(shè)備可移動(dòng)，容易維護(hù)和擴(kuò)展。

在光學(xué)鏡片研磨這一精細(xì)入微的工藝?yán)?，溫濕度波?dòng)無疑是如影隨形的 “大敵”，對鏡片質(zhì)量的影響堪稱致命。就研磨設(shè)備而言，即便是零點(diǎn)幾攝氏度的細(xì)微溫度變化，也會迅速讓研磨盤與鏡片材料的熱膨脹系數(shù)差異暴露無遺。這一差異會直接導(dǎo)致鏡片在研磨過程中受力不均，研磨效果參差不齊，鏡片的曲率精度因此大打折扣，進(jìn)而嚴(yán)重影響其光學(xué)性能。而當(dāng)處于高濕度環(huán)境時(shí)，空氣中彌漫的水汽就像隱匿的破壞者，極易在鏡片表面悄然凝結(jié)成水漬。這些水漬會在后續(xù)鍍膜工藝中成為棘手難題，極大地干擾鍍膜均勻性，致使鏡片的透過率和抗反射能力雙雙下滑，成品鏡片根本無法契合光學(xué)儀器所要求的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定性高，可連續(xù)穩(wěn)定工作時(shí)間大于 144h。江西高精密溫濕度

精密環(huán)境控制設(shè)備憑借超高精度溫度控制，保障內(nèi)部溫度水平均勻性小于16mK/m。質(zhì)譜儀溫濕度機(jī)組

激光干涉儀以其納米級別的測量精度，在半導(dǎo)體制造、精密機(jī)械加工等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。然而，它對環(huán)境變化極為敏感，溫度、濕度的微小波動(dòng)以及空氣潔凈度的差異，都可能干擾激光的傳播路徑與干涉效果，致使測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。精密環(huán)控柜的超高精度溫度控制，能將溫度波動(dòng)控制在極小區(qū)間，如關(guān)鍵區(qū)域 ±2mK（靜態(tài)），同時(shí)確保濕度穩(wěn)定性可達(dá) ±0.5%@8h，并且實(shí)現(xiàn)百級以上潔凈度控制，為激光干涉儀提供穩(wěn)定、潔凈的測量環(huán)境，保障其測量精度不受外界因素干擾。光譜分析儀用于分析物質(zhì)的光譜特性，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料檢測、化學(xué)分析等領(lǐng)域。在工作時(shí)，外界環(huán)境的不穩(wěn)定可能導(dǎo)致儀器內(nèi)部光學(xué)元件的性能變化，影響光譜的采集與分析精度。精密環(huán)控柜通過調(diào)控溫濕度，避免因溫度變化使光學(xué)元件熱脹冷縮產(chǎn)生變形，以及因濕度異常造成的鏡片霉變、光路散射等問題。其穩(wěn)定的環(huán)境控制能力，保證光譜分析儀能夠準(zhǔn)確、可靠地分析物質(zhì)光譜，為科研與生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支持。質(zhì)譜儀溫濕度機(jī)組