專譜顯微測量系統(tǒng)在 Mapping 方面的應(yīng)用專譜光電的 ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)在 Mapping 方面具有強(qiáng)大的功能，能夠?qū)崿F(xiàn)多種光譜測量和成像應(yīng)用。以下是其在 Mapping 方面的具體應(yīng)用和特點：1. 二維掃描 Mapping 功能ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)可以選裝二維電控掃描臺，通過控制軟件設(shè)置面掃描采樣，獲取一定范圍內(nèi)的逐點掃描光譜數(shù)據(jù)。這種功能可用于表征材料表面微觀結(jié)構(gòu)和光譜成像。2. 多種光譜測量模式顯微熒光測量：系統(tǒng)可以進(jìn)行顯微熒光光譜測量，適用于研究生物樣品、細(xì)胞和組織的熒光特性。顯微拉曼測量：系統(tǒng)支持顯微拉曼光譜測量，適用于材料成分分析和結(jié)構(gòu)鑒定。顯微反射測量：系統(tǒng)可以進(jìn)行顯微反射光譜測量，適用于材料表面反射特性的研究。顯微熒光測量：可以測量樣品在特定激發(fā)波長下的熒光發(fā)射光譜。山東全角度熒光光譜測量專譜光電測量系統(tǒng)

ProSp 角分辨測試系統(tǒng)（ProSp-RTM-UV/VIS）是一款高性能的全角度光譜測量系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微納光學(xué)、生物技術(shù)和礦物分析等領(lǐng)域。以下是其主要功能和應(yīng)用：功能描述全角度測量：接收端角度范圍：0-360°發(fā)射端角度范圍：0-270°高角度分辨率：角度分辨率可達(dá) 0.01°全光譜測量：光譜范圍：250-2500 nm多種測量模式：上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種測量模式自動測量模式：通過軟件設(shè)置測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時間等參數(shù)，實現(xiàn)不同模式的自動測量手動測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角和接收角進(jìn)行光譜測量大連太陽能電池專譜光電網(wǎng)站LIFS-405便攜式光譜儀采用半導(dǎo)體激光器作為光源，結(jié)合微型光纖光譜儀和熒光探頭，實現(xiàn)激光誘導(dǎo)熒光檢測。

對于傳統(tǒng)積分球式的光致發(fā)光及電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)，我們使用積分球收集電致發(fā)光器件的發(fā)射光，光譜儀分析其強(qiáng)度，根據(jù)不同波長計算其光子數(shù)，根據(jù)發(fā)射光子數(shù)與經(jīng)過器件的電流載流子數(shù)的比值，我們可以計算出樣品的電致發(fā)光量子效率 EQE 。因此，針對于不同發(fā)光強(qiáng)度及樣品區(qū)域的需求， 我們開發(fā)了這套 ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)。ProSp-ELQY電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)可變光強(qiáng)量子效率測試系統(tǒng)以模塊化思路設(shè)計，適合手套箱內(nèi)使用，應(yīng)對無論是OLED，QLED，PeLED發(fā)光器件，可在器件制備的全流程中進(jìn)行器件測試，測試系統(tǒng)經(jīng)過可溯源的光源進(jìn)行定標(biāo)，能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的***量子產(chǎn)率，色度，和光譜測量。

ProSp 系統(tǒng)能處理哪些類型的材料？ProSp 系統(tǒng)能夠處理多種類型的材料，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測和工業(yè)檢測等領(lǐng)域。以下是其主要應(yīng)用領(lǐng)域和處理的材料類型：1. 微流控領(lǐng)域ProSp 系統(tǒng)可以觀察和精確定位樣品區(qū)域，并進(jìn)行熒光、拉曼和反射光譜的測量。這使得系統(tǒng)能夠處理微流控芯片中的各種液體樣品，適用于生物醫(yī)學(xué)研究和化學(xué)分析。2. 農(nóng)業(yè)領(lǐng)域ProSp 系統(tǒng)能夠測量葉片某個區(qū)域的熒光、拉曼或反射光譜的強(qiáng)度分布，研究病蟲害情況。這使得系統(tǒng)能夠處理植物葉片、果實等農(nóng)業(yè)樣品，幫助研究人員評估植物健康狀況。3. 激光材料領(lǐng)域ProSp 系統(tǒng)可用于研究材料的熒光信號和拉曼信號，從而評價材料性能和參數(shù)指標(biāo)。這使得系統(tǒng)能夠處理各種激光材料，如半導(dǎo)體材料、納米材料和光學(xué)薄膜等。4. 光子晶體領(lǐng)域ProSp 系統(tǒng)能夠測量利用光子晶體原理制造的紡織品，測量某微小區(qū)域的顏色值和某個較大區(qū)域的顏色分布情況。這使得系統(tǒng)能夠處理光子晶體材料，幫助研究人員分析其光學(xué)特性。光源：如鎢燈光源，用于反射光譜測量。 顯微光譜測量模塊：集成了熒光、拉曼和反射光譜測量功能。

電致發(fā)光器件被廣泛應(yīng)用于照明、顯示、光通訊、光存儲以及生物醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域。電致發(fā)光器件在強(qiáng)電場作用下，電子的能量相應(yīng)增大，直至遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過熱平衡狀態(tài)下的電子能量而成為過熱電子，這過熱電子在運動過程中可以通過碰撞使晶格離化形成電子、空穴對，當(dāng)這些被離化的電子、空穴對復(fù)合或被激發(fā)的發(fā)光中心回到基態(tài)時便發(fā)出光來.。電致發(fā)光量子效率是電致發(fā)光器件發(fā)射的光子數(shù)與通過的電流載流子數(shù)之比，反映了器件的發(fā)光性能，是評價器件非常關(guān)鍵的指標(biāo)之一，直接影響顯示產(chǎn)品的能量轉(zhuǎn)換效率、因此，準(zhǔn)確測量電致發(fā)光量子效率對于表征器件的發(fā)光性能是非常重要的。波長穩(wěn)定性直接影響測量的準(zhǔn)確性。例如，SPL-Laser-785 的波長穩(wěn)定性為 ±0.005 nm@8H。江西PROSP micro40專譜光電測量系統(tǒng)

光子晶體領(lǐng)域：測量微小區(qū)域的顏色值或較大區(qū)域的顏色分布。山東全角度熒光光譜測量專譜光電測量系統(tǒng)

杭州專譜光電技術(shù)有限公司在光譜儀器、激光器系統(tǒng)及配件，生物光學(xué)和量子光學(xué)等領(lǐng)域和應(yīng)用有非常多的經(jīng)驗和解決方案，同時也組建了一支專業(yè)的銷售和服務(wù)團(tuán)隊。目前公司在光譜儀器和激光檢測系統(tǒng)方面有自己的研發(fā)能力，開發(fā)出了便攜式土壤重金屬分析儀（LIBS）、便攜式紅寶石標(biāo)壓系統(tǒng)、顯微拉曼測量系統(tǒng)等。ProSp-Micro 顯微光譜測量系統(tǒng)是由杭州譜鐳光電技術(shù)有限公司推出的高性能顯微光譜測量設(shè)備，集成了熒光、拉曼和反射光譜測量功能，適用于多種科研和工業(yè)應(yīng)用。山東全角度熒光光譜測量專譜光電測量系統(tǒng)