對于EMI傳導的部分，重點是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容（提供一條交流短路線）一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線（平面）上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方，避免因為走線的阻抗（電感），讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當然，合理串聯(lián)使用磁珠，可以“吸收”（轉換成熱能）這些雜訊。電感有時也可以用來濾除雜訊，但是請注意電感本身也是有頻率響應范圍的，而且封裝也決定其頻率響應……以上是一些基本的體會，對于EMI設計來說，需要你真正瞭解你自己的設計，什麼地方需要重點照顧，什麼地方出了問題會是什麼樣的現(xiàn)象，備選方案是什麼，都需要預先整理好。無需復制測試室條件就確定和解決EMI問題是完全可行的。鄭州GJB151BEMI診斷傳導發(fā)射測試
干擾正確的診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設計之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對于設計工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進行電磁干擾測試、診斷和故障檢測中應用廣的一種測試儀器。對于一個電磁兼容工程師（EMC）來講，頻譜分析儀除了測試商用和電磁發(fā)射的重要用途外，還可對對以下內(nèi)容進行評估：1、材料的屏蔽效能，2、設備機箱的屏蔽效能，3、較大的試驗室或測試室的屏蔽效能，4、電源線濾波器的衰減特性；此外，頻譜分析儀可從事場地勘測。浙江儀器儀表EMI診斷測試方式問題信號發(fā)生的越頻繁，問題信號的一定幅度就越可能被準峰值測量所屏蔽。
EMI測試中工程師的“痛點”：1.從電路板設計開始就應該考慮EMI問題，但受資金限制，EMI診斷設備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設計定型后去進行EMC認證測試，認證機構給出不合格報告，只指出輻射還是傳導EMI不合格，雖然給出干擾頻點，但并不指出電子設備中EMI不合格的位置或原因，需自行進行EMI診斷，耗費時間與資金。3.某些設備受環(huán)境制約無法進行屏蔽，需找出EMI根源從設計上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問題的基本測試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問題可以通過屏蔽方式解決，雖然可以通過EMC認證，但EMI影響該設備自身性能，必須從根源上解決，或找出問題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問題日益增多，必須通過對EMI周期的分析找出問題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。
我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說明其關鍵點﹐這些步驟看來似乎非常平凡簡單﹐不像介紹對策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實﹐許多很好EMI工程師在其對策處理時﹐大部份的時間都在重復這些步驟與判斷。筆者要再次強調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問題的關鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測或經(jīng)驗判斷﹐有時反而會花費更多的時間和精力。將桌子轉到待測（EUT）很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關掉EUT電源加以確認。示波器是快速了解有害輻射并找出它們來源的有效工具。
將連接EUT的周邊電纜逐一取下﹐看干擾的噪聲是否降低或消失。若取下某一電纜而干擾的頻率減小或甚而消失﹐則可知此電纜已成為天線將機板內(nèi)的噪聲輻射出來。事實上﹐仔細分析造成EMI的關鍵﹐我們可以用一個很簡單的模式來表示。任何EMI的Source必須要有天線的存在﹐才能產(chǎn)生輻射的情形﹐若只單獨存在噪聲源而沒有天線的條件﹐此輻射量是很小的﹐若將其連接到天線則由于天線效應便把能量輻射到空間。所以EMI的對策除了針對噪聲源（Source）做處理外﹐重要的查破壞產(chǎn)生輻射的條件----天線?？梢允褂梅逯禉z測來開展你的EMI排查和診斷。長沙常用EMI診斷測試方式
EMI報告似乎直接提供了有關特定頻率點故障的信息，因此事情看起來很簡單。鄭州GJB151BEMI診斷傳導發(fā)射測試
EMC測試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達標靠什么證明呢？無疑是試驗，試驗是檢驗產(chǎn)品性能好壞的單獨手段。然而，EMC試驗不單單承擔對產(chǎn)品性能終檢驗的任務，在產(chǎn)品設計階段也需要有輔助試驗手段檢驗每一個設計思想及每一項設計措施是否正確。特別是復雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗規(guī)范，在單機設備初樣、正樣研制階段需要對每項EMC指標進行測量，組成系統(tǒng)之后需要進行系統(tǒng)級的EMC測試。系統(tǒng)級EMC測試的目的一方面檢驗系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。鄭州GJB151BEMI診斷傳導發(fā)射測試