許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)以對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)觀察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等，探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出很大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外，應(yīng)注意近場(chǎng)探頭探測(cè)過程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大，但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。信號(hào)的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。多媒體EMI診斷測(cè)試設(shè)備
一個(gè)實(shí)際使用的設(shè)備箱體屏蔽效能測(cè)試方法與剛才描述的屏蔽盒測(cè)試方法相似，小發(fā)射天線放在設(shè)備箱體外部而不是屏蔽盒內(nèi)部。發(fā)射天線經(jīng)箱體屏蔽和未屏蔽的兩種情況下，用接收天線和頻譜分析儀測(cè)得的兩者之差即屏蔽效能值。如果設(shè)備箱體完全是金屬或射頻密封，它能夠很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情況下，屏蔽箱體帶有開口，如縫隙、未屏蔽的顯示屏、非金屬區(qū)域以及通風(fēng)口。如果屏蔽效能值沒滿足要求，這里就可以使用輻射發(fā)射測(cè)試中描述的故障診斷和檢測(cè)方法。安徽EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)設(shè)備上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的？一般常見的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。
通常EMI部門或外部實(shí)驗(yàn)室一開始是使用簡(jiǎn)單的峰值檢測(cè)器執(zhí)行掃描來發(fā)現(xiàn)問題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號(hào)超過或接近規(guī)定極限時(shí)，他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)，以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。換句話說，問題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。
如果用于識(shí)別輻射源，由于準(zhǔn)峰值檢波器算法結(jié)果總是小于或等于峰值檢波器，因此使用峰值檢波器足夠。準(zhǔn)峰值檢波器結(jié)果和峰值檢波器結(jié)果都涉及相同的信號(hào)重復(fù)率，您可以用公式表示數(shù)學(xué)波形，或者在故障排查過程中考慮到這一點(diǎn)。另一方面，EMI濾波器只會(huì)略微改變結(jié)果。與測(cè)試接收機(jī)不同，示波器在設(shè)計(jì)上沒有內(nèi)置EMI一致性限值測(cè)試。使用大多數(shù)示波器都配有的模板測(cè)試，或遠(yuǎn)程軟件，可以在示波器上定義EMI一致性限值從而模擬EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。然后，您可以進(jìn)一步設(shè)置更多的模板，發(fā)現(xiàn)感興趣的問題區(qū)域。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。
對(duì)于EMI傳導(dǎo)的部分，重點(diǎn)是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容（提供一條交流短路線）一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線（平面）上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方，避免因?yàn)樽呔€的阻抗（電感），讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當(dāng)然，合理串聯(lián)使用磁珠，可以“吸收”（轉(zhuǎn)換成熱能）這些雜訊。電感有時(shí)也可以用來濾除雜訊，但是請(qǐng)注意電感本身也是有頻率響應(yīng)范圍的，而且封裝也決定其頻率響應(yīng)……以上是一些基本的體會(huì)，對(duì)于EMI設(shè)計(jì)來說，需要你真正瞭解你自己的設(shè)計(jì)，什麼地方需要重點(diǎn)照顧，什麼地方出了問題會(huì)是什麼樣的現(xiàn)象，備選方案是什麼，都需要預(yù)先整理好。待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以 便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。重慶 芯片EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試
測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的。多媒體EMI診斷測(cè)試設(shè)備
各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)減小或消失﹐若會(huì)減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機(jī)器接頭的密合度﹐這一點(diǎn)也是實(shí)測(cè)上很容易被疏忽﹐而會(huì)誤判機(jī)器的EMI為何每次測(cè)時(shí)好時(shí)壞﹐或花許多時(shí)間在其它的對(duì)策上面。多媒體EMI診斷測(cè)試設(shè)備