近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB，LAN之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。電磁場是由電場和磁場構(gòu)成。在近場，電場和磁場共同存在，其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場為主還是磁場為主，主要是由發(fā)射源的類型決定的。簡而言之，在高電壓，低電流的區(qū)域，電場大于磁場。高電流，低電壓的區(qū)域，磁場大于電場。同時(shí)在主要的EMI測試頻段，磁場隨著距離的變化要快于電場。對(duì)于通常的天線，輻射近場區(qū)此區(qū)域也稱為菲涅爾區(qū)。浙江電磁波近場輻射掃描儀

天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對(duì)相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對(duì)它們的測量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，副瓣電平在-40dB以上時(shí)，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時(shí)，測量精度為±5dB。福建家電燈具近場輻射掃描儀按照與天線距離的遠(yuǎn)近，又把輻射場區(qū)分為輻射近場區(qū)和輻射遠(yuǎn)場區(qū)。

平面散射近場測量的基本理論已由文獻(xiàn)［12～15］給出。其基本原理是綜合平面波法，綜合平面波的基本思想為：如果對(duì)一個(gè)由N個(gè)輻射單元組成的線陣同時(shí)進(jìn)行激勵(lì)，每個(gè)輻射單元產(chǎn)生一個(gè)準(zhǔn)球面波e（θ，φ），選擇一個(gè)與方向角（θ，φ）有關(guān)的權(quán)函數(shù)W（θ，φ）對(duì)每個(gè)e（θ，φ）進(jìn)行加權(quán)并求和（線性系統(tǒng)），則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波，對(duì)不同方向的（θ，φ）選擇不同W（θ，φ）就可以獲得不同方向上的平面波對(duì)被測目標(biāo)的照射。這一過程實(shí)現(xiàn)了對(duì)平面波的綜合（這與綜合口徑雷達(dá)SAR的概念極為相似），并很容易在計(jì)算機(jī)上完成。

和磁場不一樣，電場是因?yàn)橐苿?dòng)或者靜電荷產(chǎn)生的。通過這種方式，當(dāng)感受到散熱片或者金屬外殼上的電磁波的時(shí)候，電場會(huì)影響并改變磁場。這種電場效應(yīng)也會(huì)傾向于改變離源頭更遠(yuǎn)的地方（即遠(yuǎn)場）。因?yàn)榄h(huán)境因素例如無線電臺(tái)，wifi或者是人為的干擾射頻信號(hào)，遠(yuǎn)場測量更容易出現(xiàn)錯(cuò)誤。遠(yuǎn)場測量，比如說某個(gè)兼容測試的信號(hào)發(fā)射部分的表現(xiàn)測量，會(huì)比近場測量需要更復(fù)雜的設(shè)備和更豐富的知識(shí)。通過測量由導(dǎo)體產(chǎn)生的電磁場的相位和頻率，我們可以找出導(dǎo)致EMI問題的高電勢點(diǎn)。輻射強(qiáng)度的衰減要比感應(yīng)場慢得多。

散射近場測量：當(dāng)輻射體變?yōu)樯⑸潴w時(shí)，輻射近場測量轉(zhuǎn)換為散射近場測量。由于散射體是無源的，因此需要一個(gè)照射源對(duì)其進(jìn)行照射，同輻射近場測量一樣，散射近場測量也有3種取樣方式，分別稱為平面散射近場測量和柱面散射近場測量以及球面散射近場測量。平面散射近場已取得了許多研究成果，柱面、球面散射近場測量的研究成果公開報(bào)道的文獻(xiàn)很少。散射體的散射特性通常用雷達(dá)散射截面（RadarCrossSection，簡寫為RCS）來衡量，有一定量和相對(duì)量之分，一定量一般是以一個(gè)已知散射體的RCS為標(biāo)準(zhǔn)來標(biāo)定待測散射體的RCS，標(biāo)準(zhǔn)值來自理論計(jì)算和測量值；相對(duì)量用散射方向圖來表示。過渡區(qū)是指近場和遠(yuǎn)場之間的部分(有些模型沒有定義過渡區(qū))。重慶 干擾源近場輻射分析儀價(jià)格

距離天線一定范圍內(nèi)，電場和磁場基本為平面并以直角相交。浙江電磁波近場輻射掃描儀

輻射近場測量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場測量的主要誤差源為18項(xiàng)，大致分為4個(gè)方面，即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測量系統(tǒng)誤差以及測量環(huán)境誤差。對(duì)于平面輻射近場測量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場測量的誤差分析尚未完成。對(duì)于平面輻射近場測量而言，由基本理論可知，在θ=-90°或90°（θ為場點(diǎn)偏離天線口面法線方向的方向角）時(shí)，這種方法的精度明顯變差，因此平面輻射近場測量適用于天線方向圖為單向筆形波束天線的測量，可信域（-θ，θ）中的θ值與近場掃描面和取樣間距有如下關(guān)系（一維情況）：θ=arctg［（L-X）/2d］，式中L為掃描面的尺寸；X為天線口徑面的尺寸；d為掃描面到天線口徑面的距離。浙江電磁波近場輻射掃描儀

揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司總部位于街道新石社區(qū)華聯(lián)工業(yè)區(qū)28號(hào)1202，是一家揚(yáng)芯科技(深圳)有限公司成立于2018年11月01日，注冊(cè)地位于深圳市龍華區(qū)大浪街道新石社區(qū)華聯(lián)工業(yè)區(qū)28號(hào)1202，法定代表人為楊紅波。經(jīng)營范圍包括一般經(jīng)營項(xiàng)目是：通訊設(shè)備、汽車零部件、消費(fèi)電子產(chǎn)品的集成電路、元器件設(shè)計(jì)與開發(fā)；自動(dòng)化檢測系統(tǒng)集成及解決方案的開發(fā)、銷售及技術(shù)咨詢；國內(nèi)貿(mào)易、貨物及技術(shù)進(jìn)出口。的公司。揚(yáng)芯科技作為揚(yáng)芯科技(深圳)有限公司成立于2018年11月01日，注冊(cè)地位于深圳市龍華區(qū)大浪街道新石社區(qū)華聯(lián)工業(yè)區(qū)28號(hào)1202，法定代表人為楊紅波。經(jīng)營范圍包括一般經(jīng)營項(xiàng)目是：通訊設(shè)備、汽車零部件、消費(fèi)電子產(chǎn)品的集成電路、元器件設(shè)計(jì)與開發(fā)；自動(dòng)化檢測系統(tǒng)集成及解決方案的開發(fā)、銷售及技術(shù)咨詢；國內(nèi)貿(mào)易、貨物及技術(shù)進(jìn)出口。的企業(yè)之一，為客戶提供良好的近場輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案。揚(yáng)芯科技繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。揚(yáng)芯科技始終關(guān)注儀器儀表行業(yè)。滿足市場需求，提高產(chǎn)品價(jià)值，是我們前行的力量。