80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，***開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)***及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類(lèi)技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點(diǎn)功能測(cè)試系統(tǒng)為電子設(shè)備的質(zhì)量保駕護(hù)航，確保產(chǎn)品在交付用戶(hù)前達(dá)到較佳性能。PCB測(cè)試系統(tǒng)原理

測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線(xiàn)測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線(xiàn)或離線(xiàn)測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。浙江通用功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格在線(xiàn)測(cè)試：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，降低故障風(fēng)險(xiǎn)。

測(cè)控計(jì)算機(jī)，早期的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多采用小型機(jī)和工作站，隨著現(xiàn)代PC性能的大幅提高，已遠(yuǎn)遠(yuǎn)高出以前小型機(jī)的性能，趨向于采用廣為普及的現(xiàn)代PC，這樣便于利用計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展的較新成果，容易更新升級(jí)。為滿(mǎn)足電路板測(cè)試的小型化以及便攜式測(cè)試系統(tǒng)的要求，還研制出了基于VXI總線(xiàn)和PXI總線(xiàn)的嵌入式PC，可直接插入VXI機(jī)箱或PXI機(jī)箱，使測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)更緊湊，外形更小巧。采用wai掛式處理器集成系統(tǒng)時(shí)，可以采用MXI-VXI或MXI-PXI總線(xiàn)、GPIB總線(xiàn)、IEEE-1394（俗稱(chēng)火線(xiàn)）總線(xiàn)、USB通過(guò)串行總線(xiàn)等多種方式與VXI或PXI機(jī)箱通信，這幾種通信方式各有優(yōu)缺點(diǎn)，具體選擇何種通信方式需考慮成本、數(shù)據(jù)傳輸速率及它們各自的物理機(jī)械特性等因素。

在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)原理：慨述：定義 ICT在線(xiàn)測(cè)試儀，ICT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線(xiàn)元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 ICT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試，優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具，程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，但對(duì)每種單板需制作專(zhuān)門(mén)使用的針床夾具，夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)。小型化趨勢(shì)：隨著電子產(chǎn)品向小型化發(fā)展，功能測(cè)試系統(tǒng)也需要適應(yīng)這一趨勢(shì)，實(shí)現(xiàn)便攜式、高效測(cè)試。

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)對(duì)PCBA多信號(hào)可同步測(cè)試，人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機(jī)種（Model）的方便轉(zhuǎn)換，為企業(yè)節(jié)省人力物力，提高生產(chǎn)效率，從而給企業(yè)帶來(lái)經(jīng)濟(jì)效益?；贚abVIEW開(kāi)發(fā)的編程環(huán)境。自動(dòng)多項(xiàng)目集中測(cè)試和多測(cè)試點(diǎn)同步測(cè)試，減少工位和工時(shí)。應(yīng)用本公司自校準(zhǔn)技術(shù)，轉(zhuǎn)機(jī)種不需要高素質(zhì)工程人員。統(tǒng)一治具結(jié)構(gòu)；利于管理和控制成本。自動(dòng)準(zhǔn)確判斷每個(gè)細(xì)節(jié)，不產(chǎn)生遺漏和誤判，結(jié)果更為可靠。用戶(hù)界面友好，容易實(shí)現(xiàn)新機(jī)種自動(dòng)測(cè)試編程和調(diào)試。信號(hào)采樣PC分析得出PASS或FAIL。員工不需思考判斷是否達(dá)標(biāo)，PC代替完成?；贚abVIEW2010開(kāi)發(fā)的編譯平臺(tái)，客戶(hù)在編譯平臺(tái)下進(jìn)行二次編程，簡(jiǎn)單、方便、快捷，直接填寫(xiě)檢測(cè)內(nèi)容。員工不需思考判斷是否達(dá)標(biāo)，PC代替完成并顯示測(cè)試結(jié)果。統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能隨時(shí)查閱產(chǎn)量及品質(zhì)狀況。電池功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電池性能和容量。長(zhǎng)春測(cè)試系統(tǒng)有什么用

離線(xiàn)測(cè)試：針對(duì)不具備在線(xiàn)測(cè)試條件的設(shè)備，離線(xiàn)測(cè)試成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵手段。PCB測(cè)試系統(tǒng)原理

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（automatic test system）是指在人極少參與或不參與的情況下，自動(dòng)進(jìn)行量測(cè)，處理數(shù)據(jù)，并以適當(dāng)方式顯示或輸出測(cè)試結(jié)果的系統(tǒng)。與人工測(cè)試相比，自動(dòng)測(cè)試省時(shí)、省力，能提高勞動(dòng)生產(chǎn)率和產(chǎn)品質(zhì)量，它對(duì)生產(chǎn)、科研和國(guó)家防護(hù)都有重要作用。產(chǎn)品功能：1、在線(xiàn)測(cè)試。2、可視化測(cè)試系統(tǒng)軟件。3、氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)測(cè)試機(jī)構(gòu)，靜電皮帶輸送機(jī)構(gòu)，集成機(jī)柜。4、頂部和底部雙面夾具裝置。5、針床式測(cè)試夾具。6、較大支持1000個(gè)測(cè)試點(diǎn)的。7、較大支持510X460mm尺寸的PCB板。應(yīng)用：1、通孔和混合技術(shù)的SMT錫膏印刷后及回焊爐前和回焊爐后電路板檢查。2、模擬和數(shù)字組件。3、單件或批量印刷電路板。4、在線(xiàn)編程系統(tǒng)。PCB測(cè)試系統(tǒng)原理