ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法：模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。 若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 1.2 隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)單獨(dú)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。離線功能測(cè)試系統(tǒng)可脫機(jī)進(jìn)行功能驗(yàn)證。臺(tái)州功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

操作簡(jiǎn)便:由于測(cè)量過(guò)程是程序操作，測(cè)試人員只需接入被測(cè)件和按電鍵，無(wú)需測(cè)試員具備高深的理論和熟練的測(cè)試技巧。測(cè)試設(shè)計(jì)主要是編制測(cè)試程序結(jié)論在智能測(cè)試系統(tǒng)中，為要完成各式各樣的測(cè)試任務(wù)，要求被選作系統(tǒng)部件的各種設(shè)備能做到標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)格化。智能測(cè)試系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化反映在兩個(gè)方面:其一是系統(tǒng)內(nèi)傳遞的消息類(lèi)型及表達(dá)方式應(yīng)該規(guī)范化;其二是系統(tǒng)部件的接口部件必須標(biāo)準(zhǔn)化。這些標(biāo)準(zhǔn)都要已正式文本的形式加以確認(rèn)，使之成為國(guó)際化的專(zhuān)業(yè)標(biāo)注。浙江自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商環(huán)保型測(cè)試：功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)，降低能源消耗和環(huán)境污染。

零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見(jiàn)的問(wèn)題就是長(zhǎng)期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中，利用計(jì)算機(jī)對(duì)由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正，或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問(wèn)題。提高信噪比:利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的計(jì)算和數(shù)據(jù)處理功能，用軟件的方法去除噪聲?？刂茰y(cè)量過(guò)程及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)和實(shí)時(shí)的處理和分析:通過(guò)在智能儀器上的計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

測(cè)控計(jì)算機(jī)，早期的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多采用小型機(jī)和工作站，隨著現(xiàn)代PC性能的大幅提高，已遠(yuǎn)遠(yuǎn)高出以前小型機(jī)的性能，趨向于采用廣為普及的現(xiàn)代PC，這樣便于利用計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展的較新成果，容易更新升級(jí)。為滿足電路板測(cè)試的小型化以及便攜式測(cè)試系統(tǒng)的要求，還研制出了基于VXI總線和PXI總線的嵌入式PC，可直接插入VXI機(jī)箱或PXI機(jī)箱，使測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)更緊湊，外形更小巧。采用wai掛式處理器集成系統(tǒng)時(shí)，可以采用MXI-VXI或MXI-PXI總線、GPIB總線、IEEE-1394（俗稱(chēng)火線）總線、USB通過(guò)串行總線等多種方式與VXI或PXI機(jī)箱通信，這幾種通信方式各有優(yōu)缺點(diǎn)，具體選擇何種通信方式需考慮成本、數(shù)據(jù)傳輸速率及它們各自的物理機(jī)械特性等因素。各種功能測(cè)試系統(tǒng)：涵蓋各類(lèi)電子設(shè)備，為不同領(lǐng)域提供專(zhuān)業(yè)測(cè)試解決方案。

電路板測(cè)試按測(cè)試對(duì)象分為：專(zhuān)門(mén)使用電路板測(cè)試系統(tǒng)：是針對(duì)具體PCB的測(cè)試任務(wù)或具體測(cè)試對(duì)象而研制的測(cè)試系統(tǒng)。常按測(cè)試對(duì)象命名，如BTS控制板測(cè)試，遙控器電路板測(cè)試，電能表電路板測(cè)試等。通用電路板測(cè)試：是針對(duì)一定領(lǐng)域和被測(cè)PCB而研制的電路板測(cè)試系統(tǒng)。如Teradyne的C3065系列電路板測(cè)試機(jī)可以完成空間實(shí)驗(yàn)室的納安級(jí)電路板的測(cè)試，以及HBM公司的SmartA2000電路板測(cè)試系統(tǒng)等都屬于通用電路板測(cè)試范疇。電路板測(cè)試系統(tǒng)（PTS）由三大部分組成：測(cè)試機(jī)臺(tái)，測(cè)試軟件，測(cè)試程序。PCBA功能測(cè)試：針對(duì)印刷電路板組件（PCBA）進(jìn)行功能測(cè)試，確保其性能達(dá)標(biāo)。湖州單元測(cè)試系統(tǒng)哪家好

功能測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展將不斷推動(dòng)電子行業(yè)的進(jìn)步與發(fā)展。臺(tái)州功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來(lái)，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同類(lèi)有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專(zhuān)門(mén)使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過(guò)測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來(lái)，顯示在微機(jī)屏幕上，較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。臺(tái)州功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格