上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代中國(guó)臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，中國(guó)臺(tái)灣開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因中國(guó)臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)中國(guó)臺(tái)灣及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!各種功能測(cè)試系統(tǒng)可滿足不同行業(yè)的功能驗(yàn)證需求。無(wú)錫驗(yàn)收測(cè)試系統(tǒng)哪家好
先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)備有故障診斷程序包，可根據(jù)測(cè)試過(guò)程中得到的情報(bào)自動(dòng)判斷故障，故障發(fā)生時(shí),能自動(dòng)查找故障的位置。在測(cè)試未通過(guò)的情況下,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)從測(cè)試程序自動(dòng)轉(zhuǎn)換到診斷程序。自動(dòng)故障診斷的方法大體上分為兩類。①導(dǎo)引探測(cè)法：操作人員根據(jù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)顯示的探測(cè)指令逐點(diǎn)查找故障。②特征分析法：當(dāng)被測(cè)節(jié)點(diǎn)特征不正確時(shí)，操作人員在程序指引下校驗(yàn)前面電路的特征。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的可靠性是指它對(duì)被測(cè)對(duì)象誤差和故障的檢測(cè)能力。無(wú)錫驗(yàn)收測(cè)試系統(tǒng)哪家好自動(dòng)功能測(cè)試系統(tǒng)可自動(dòng)完成測(cè)試流程。
相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無(wú)可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、節(jié)省勞動(dòng)力，提高生產(chǎn)效率。本系統(tǒng)將傳統(tǒng)方法上多人合作完成的測(cè)試項(xiàng)目（多測(cè)試步驟）集中到一臺(tái)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備上，只需手動(dòng)將針床壓合，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集處理，其速度是手動(dòng)測(cè)試無(wú)法比擬的。系統(tǒng)對(duì)PCBA多信號(hào)可同步測(cè)試，人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機(jī)種的便捷轉(zhuǎn)換，為企業(yè)節(jié)省大量人力物力，并較大程度上提高生產(chǎn)效率。2、易用性，無(wú)論是更換機(jī)種，或是測(cè)試程序編輯，還是具體測(cè)試，一般操作者均能輕松掌握。
功能系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)，功能系統(tǒng)測(cè)試是從PCBA板卡的功能實(shí)現(xiàn)與否的角度來(lái)進(jìn)行的測(cè)試，因此相對(duì)于其它測(cè)試手段顯得簡(jiǎn)捷直觀，但由于功能系統(tǒng)測(cè)試是把待測(cè)PCBA當(dāng)作一個(gè)類似于黑盒子的功能單元來(lái)進(jìn)行測(cè)試，有時(shí)并不能準(zhǔn)確定位出功能系統(tǒng)測(cè)試未能通過(guò)的PCBA所存在的問(wèn)題之所在，不過(guò)采用。對(duì)比所列出的ICT、AOI、AXI等測(cè)試方法，采用功能系統(tǒng)測(cè)試的成本一般來(lái)說(shuō)要小很多，對(duì)于一些小批量的PCBA板卡生產(chǎn)，采用功能系統(tǒng)測(cè)試可以有效的節(jié)約成本。此外，對(duì)于一些對(duì)穩(wěn)定性和可靠性要求較高的產(chǎn)品，其測(cè)試系統(tǒng)往往是采用多種測(cè)試手段進(jìn)行流水線作業(yè)，而功能系統(tǒng)測(cè)試是其中必不可少的步驟。電子產(chǎn)品的質(zhì)量保障：功能測(cè)試系統(tǒng)是電子產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，確保產(chǎn)品在出廠前達(dá)到預(yù)期性能。
電路類型主要包括：差分測(cè)量電流，在差分測(cè)量系統(tǒng)中，信號(hào)輸入端的兩極分別與兩個(gè)不同的模擬輸入(簡(jiǎn)稱模入)端相連接，并通過(guò)多路開(kāi)關(guān)(MUX)分別連接到儀用放大(簡(jiǎn)稱儀放)的正負(fù)極上。一個(gè)8通道的差分測(cè)量系統(tǒng)如圖1所示，其中儀用放大器通過(guò)多路開(kāi)關(guān)進(jìn)行通道轉(zhuǎn)換。標(biāo)有AIGND(模擬輸入地)的引腳為測(cè)量系統(tǒng)的地。參考地單端測(cè)量電流，在參考地單端RSE(Referenced Single Ended)測(cè)量系統(tǒng)中，被測(cè)量信號(hào)一端接模擬輸入通道，另一端接系統(tǒng)地(AIGND)。無(wú)參考地單端測(cè)量電路，無(wú)參考地單端測(cè)量系統(tǒng)(NRSE)中一端接模擬輸入通道，另一端接公用參考端，但這個(gè)參考端電壓相對(duì)于測(cè)量系統(tǒng)的地來(lái)說(shuō)是不斷變化的。軟件測(cè)試：針對(duì)軟件系統(tǒng)進(jìn)行功能、性能、兼容性等多方面測(cè)試。嘉興電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)
現(xiàn)代化的測(cè)試手段：功能測(cè)試系統(tǒng)融合了現(xiàn)代科技，為電子設(shè)備提供更為精確、快速的檢測(cè)。無(wú)錫驗(yàn)收測(cè)試系統(tǒng)哪家好
智能測(cè)試系統(tǒng)，作為先進(jìn)的測(cè)量手段，具有以下特點(diǎn)，多功能和多參數(shù)測(cè)量:由于由計(jì)算機(jī)，因而能計(jì)算出很多二次型參數(shù)。高重復(fù)性:由于進(jìn)行的每一次測(cè)量都是按同一程序控制進(jìn)行，避免了人為操作的誤差，重復(fù)性一致性高。自適應(yīng)處理能力:測(cè)量數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)一定的自適應(yīng)算法處理，給出被測(cè)系統(tǒng)的控制信號(hào)，能實(shí)現(xiàn)對(duì)一些過(guò)程的自適應(yīng)處理。自校準(zhǔn)和自診斷:一般智能測(cè)試系統(tǒng)都有自校準(zhǔn)和自診斷能力。利用標(biāo)準(zhǔn)元器件實(shí)行機(jī)上校準(zhǔn)，自動(dòng)給出誤差因子修正測(cè)量誤差。無(wú)錫驗(yàn)收測(cè)試系統(tǒng)哪家好