測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專門使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來，顯示在微機(jī)屏幕上，較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。電機(jī)功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電機(jī)的性能和轉(zhuǎn)速。臺(tái)州在線測(cè)試系統(tǒng)有什么用

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)越性，測(cè)試速度提高5-10倍，為企業(yè)帶來經(jīng)濟(jì)效益，縮減工位。整機(jī)測(cè)試環(huán)境下測(cè)試，所以不介入被測(cè)產(chǎn)品的技術(shù)主要內(nèi)幕。免去所有人為因素，所以判斷更為準(zhǔn)確、可靠。特殊I/O及夾具構(gòu)造，轉(zhuǎn)Model不需拆焊或再焊連接線，一次連線長(zhǎng)久使用，提高轉(zhuǎn)Model的效率。人性化編程環(huán)境，電子技術(shù)人員只需4個(gè)小時(shí)，可完全學(xué)會(huì)測(cè)試程序的編程及優(yōu)化。統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能隨時(shí)查閱產(chǎn)量及品質(zhì)狀況。遠(yuǎn)程控制功能。管理層權(quán)限設(shè)置功能。條碼掃描、打印功能。臺(tái)州在線測(cè)試系統(tǒng)有什么用集成測(cè)試：將各個(gè)單元集成后進(jìn)行全方面測(cè)試，確保整體性能達(dá)標(biāo)。

對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。意義在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中頭一道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT在線測(cè)試儀測(cè)試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。

系統(tǒng)功能，在線測(cè)試(ICT)：PCB開路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。系統(tǒng)應(yīng)用：空調(diào)主板、電視機(jī)板、洗衣機(jī)板、微波爐板、遙控器板、汽車電子電路板、其他消費(fèi)類電子產(chǎn)品、各種PCB板檢測(cè)……這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶提供了極好的解決方案。功能測(cè)試與生產(chǎn)過程的融合：將功能測(cè)試與生產(chǎn)過程緊密結(jié)合，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的實(shí)時(shí)監(jiān)控。

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難，開發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。單元測(cè)試：針對(duì)軟件中的較小可測(cè)試單元進(jìn)行測(cè)試，保證軟件質(zhì)量。臺(tái)州在線測(cè)試系統(tǒng)有什么用

通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)：適用于多種電子設(shè)備，實(shí)現(xiàn)快速、高效的自動(dòng)化測(cè)試。臺(tái)州在線測(cè)試系統(tǒng)有什么用

功能系統(tǒng)測(cè)試原理：FST是function system test的簡(jiǎn)稱，功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)，它將線路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，對(duì)其提供輸入信號(hào)，按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來實(shí)現(xiàn)，如任意波形發(fā)生器，任意函數(shù)發(fā)生器，邏輯信號(hào)發(fā)生器等，也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)，采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來實(shí)現(xiàn)，如示波器，頻譜分析儀等，也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)，所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問題。計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線、PCI總線、RS232串口、USB等，通信方式的選擇需要根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的硬件選擇和測(cè)試對(duì)于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。臺(tái)州在線測(cè)試系統(tǒng)有什么用