超聲波探頭的工作原理：1．通過壓電效應(yīng)發(fā)射、接收超聲波。2．640V的交變電壓加至壓電晶片銀層，使面積相同間隔一定距離的兩塊金屬極板分別帶上等量異種電荷形成電場，有電場就存在電場力，壓電晶片處在電場中，在電場力的作用下發(fā)生形變，在交變電場力的作用下，發(fā)生變形的效應(yīng)，稱為逆壓電效應(yīng)，也是發(fā)射超聲波的過程。3．超聲波是機械波，機械波是由振動產(chǎn)生的，超聲波發(fā)現(xiàn)缺陷引起缺陷振動，其中一部分沿原路返回，由于超聲波具有一定的能量，再作用到壓電晶體上，使壓電晶體在交變拉、壓力作用下產(chǎn)生交變電場，這種效應(yīng)稱為正壓電效應(yīng)，是接收超聲波的過程。正、逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱為壓電效應(yīng)。超聲探頭是利用材料的壓電效應(yīng)實現(xiàn)電能、聲能轉(zhuǎn)換的換能器。安徽無損檢測超聲探頭廠家
雙晶超聲波探頭的兩個晶片之間有一片吸聲性強、絕緣性好的隔聲層，不但可以用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞，而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進入接收晶片，有效減少雜波。由于雙晶超聲波探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊，能使探傷盲區(qū)大幅減小，故雙晶超聲波探頭對表面缺陷的探傷十分有利。超聲波探頭以及電路在振蕩停止后，因為慣性的作用，電路還會工作一段時間，會對電源，接收回路產(chǎn)生一定的影響。但是這個過程，因為控制段已經(jīng)關(guān)閉，所以會越來越弱，這個過程就叫余震。超聲波探頭阻尼對壓電晶片的振動起阻尼作用，一是可使晶片起振后盡快停下來，減少脈沖寬度，提高分辨力；二是吸收晶片向背面發(fā)射的超聲波，減少始脈沖雜波；三是支撐晶片的安放。無損檢測超聲探頭采購超聲探頭可以將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖。
超聲探頭的分類：（1）單探頭：它通常選用磨制成平面薄圓片形的壓電陶瓷作為換能器，超聲聚焦通常采用薄殼球形或碗形換能器有源聚焦和平面薄圓片配聲透鏡聚焦兩種方式。常用于A型、M型、機械扇掃和脈沖多普勒工作方式的超聲診斷儀中。（2）機械探頭：按壓電晶片數(shù)和運動方式可分為單元換能器往復(fù)擺動掃描和多元換能器旋轉(zhuǎn)切換掃描探頭類型。按掃查平面的特征可分為扇形檢查、全景徑向掃查和矩形平面線性掃查探頭（3）電子探頭：它采用多元結(jié)構(gòu)。利用電子學(xué)原理進行聲束掃查，按結(jié)構(gòu)和工作原理他可以分為線陣、凸陣、相控陣和面陣探頭。
超聲波探頭的選擇方法有哪些？1、晶片尺寸的選擇：檢測面積范圍大的工件時，為了提高檢測效率宜選用大晶片探頭；檢測厚度大的工件時，為了有效地發(fā)現(xiàn)遠距離的缺陷宜選用大晶片探頭；檢測小型工件時，為了提高缺陷定位、定量精度宜選用小晶片探頭；檢測表面不太平整或曲率較大的工件時，為了較少耦合損失宜選用小晶片探頭。2、頻率的選擇：對于小缺陷、厚度不大的工件，宜選擇較高頻率；對于大厚工件、高衰減材料，應(yīng)選擇較低頻率；如對于晶粒較細的鍛件、軋制件和焊接件等，一般選用較高的頻率，常用2.5~10MHz；對于晶粒較大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用0.5~2.5MHz。要避免接觸有機溶劑，否則超聲探頭會因接觸有機溶劑開裂損壞。
超聲波探頭的選擇方法：1、超聲波探頭頻率的選擇：對于小缺陷、厚度不大的工件，宜選擇較高頻率。對于大厚工件、高衰減材料，應(yīng)選擇較低頻率。如對于晶粒較細的鍛件、軋制件和焊接件等，一般選用較高的頻率，常用2.5~10MHz。對于晶粒較大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用0.5~2.5MHz。2、探頭帶寬的選擇：探頭發(fā)射的超聲脈沖頻率都不是單一的，而是有一定帶寬的。寬帶探頭的脈沖寬度較小，深度分辨力好，盲區(qū)小，但由于探頭使用的阻尼較大，通常靈敏度較低.窄帶探頭則脈沖較寬，深度分辨力差，盲區(qū)大，但靈敏度較高，穿透能力強。寬帶探頭由于脈沖短，在材料內(nèi)部散射噪聲較高的情況下，具有比窄帶探頭信噪比好的優(yōu)點。對晶粒較大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用寬帶探頭。超聲探頭是精密貴重器件，也是超聲設(shè)備的貴重部件。重慶定制超聲波探頭廠商
超聲探頭的重點是壓電晶體或復(fù)合壓電材料。安徽無損檢測超聲探頭廠家
常見超聲探頭故障種類與原因：成像顯示區(qū)域有黑影：成像顯示區(qū)域如果出現(xiàn)黑影或者圖像缺損，除了觀察探頭外觀表層聲透鏡沒有明顯的破損，而造成此類故障的另外一種可能就是，探頭的晶體老化跟晶體短路。而B超探頭內(nèi)部多數(shù)采用的是壓電晶體，長期使用會造成晶體自然老化，不規(guī)范的使用或摔、碰等外力擊打會造成探頭晶體的損傷，晶體損傷后B超檢測儀檢測的圖像就會出現(xiàn)信號衰減、圖像中有黑影、黑條、干擾、缺損等盲區(qū)。晶片的短路可通過測量晶片的供電電壓來判斷，若某一晶片或晶片組的供電電壓較其他低，則可判斷該晶片或晶片組內(nèi)有短路。更換相應(yīng)的晶片，使得探頭恢復(fù)以前的特性，干擾消失。安徽無損檢測超聲探頭廠家
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