電子探針又稱微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線，按其波長及強度對固體表面微區(qū)進行定性及定量化學(xué)分析。主要用來分析固體物質(zhì)表面的細小顆?；蛭⑿^(qū)域，**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。***感量可達10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置，可在觀察微區(qū)形貌的同時逐點分析試樣的化學(xué)成分及結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門。如圖《電子探針示意圖》所示。計算時應(yīng)用布拉格方程：nλ=2dsinθ。上海優(yōu)勢探針按需定制

***臺電子探針是法國制成的，是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯(lián)制成了X射線微區(qū)分析儀，以后英、美等國陸續(xù)生產(chǎn)。***臺掃描電子探針儀是美國于1960年制成，不僅能對試樣作點或微區(qū)分析，而且能對樣品表面微區(qū)進行掃描。原子序數(shù)12至22的元素要在真空下進行成分測定，原子序數(shù)12以內(nèi)的元素需要增添一些特殊設(shè)備才能分析。原子序數(shù)50以上的元素用L系X射線光譜進行分析，原子序數(shù)50以下的元素也可以分析，如Sn（50）可用K系x射線光譜進行分析。 [2]楊浦區(qū)挑選探針現(xiàn)價它的作用是選擇和確定分析點。

體外轉(zhuǎn)錄技術(shù)不斷完善，已相繼建立了單向和雙向體外轉(zhuǎn)錄系統(tǒng)。該系統(tǒng)主要基于一類新型載體pSP和pGEM，這類載體在多克隆位點兩側(cè)分別帶有SP6啟動子和T7啟動子，在SP6RNA聚合酶或T7RNA聚合酶作用下可以進行RNA轉(zhuǎn)錄，如果在多克隆位點接頭中插入了外源DNA片段，則可以此DNA兩條鏈中的一條為模板轉(zhuǎn)錄生成RNA。這種體外轉(zhuǎn)錄反應(yīng)效率很高，在1h內(nèi)可合成近10μg的RNA產(chǎn)生，只要在底物中加入適量的放射性或生物素標記的NTP，則所合成的RNA可得到高效標記。該方法能有效地控制探針的長度并可提高標記物的利用率。

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學(xué)組成以及各元素的重量百分數(shù)。分析前要根據(jù)試驗?zāi)康闹苽錁悠罚瑯悠繁砻嬉鍧?。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像?？梢?，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門。

電子探針儀鏡筒部分的構(gòu)造大體上和掃描電子顯微鏡相同，只是在檢測器部分使用的是X射線譜儀、專門用來檢測X射線的特征波長或特征能量，以此來對微區(qū)的化學(xué)成分進行分析。因此，除專門的電子探針儀外，有相當一部分電子探針儀是作為附件安裝在掃描電鏡或透射電鏡鏡筒上，以滿足微區(qū)組織形貌、晶體結(jié)構(gòu)及化學(xué)成分三位一體同位分析的需要 [1]。用波長色散譜儀（或能量色散譜儀）和檢測計數(shù)系統(tǒng)，測量特征X射線的波長（或能量）和強度，即可鑒別元素的種類和濃度。還能全自動進行批量（預(yù)置9999測試點）定量分析。徐匯區(qū)質(zhì)量探針按需定制

分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。感量可達10-14至10-15g。上海優(yōu)勢探針按需定制

X射線譜儀能譜儀電子束轟擊樣品表面將產(chǎn)生特征X射線，不同的元素有不同的X射線特征波長和能量。通過鑒別其特征波長或特征能量就可以確定所分析的元素。利用特征波長來確定元素的儀器叫做波長色散譜儀（波譜儀），利用特征能量的就稱為能量色散譜儀（能譜儀）。1、波譜儀波譜儀的關(guān)鍵在于怎樣實現(xiàn)將未知的特征譜線與已知元素Z聯(lián)系起來？為此設(shè)想有一種晶面間距為d的特定晶體（我們稱為分光晶體），當不同特征波長λ的X射線照射其上時，如果滿足布拉格條件（2dsinθ=λ）將產(chǎn)生衍射。顯然，對于任意一個給定的入射角θ*有一個確定的波長λ滿足衍射條件。上海優(yōu)勢探針按需定制

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