利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數(shù)。分析前要根據(jù)試驗?zāi)康闹苽錁悠?，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像?？梢姡贏l2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。崇明區(qū)挑選探針品牌

值得一提的是，通過改變外源基因的插入方向或選用不同的RNA聚合酶，可以控制RNA的轉(zhuǎn)錄方向，即以哪條DNA鏈以模板轉(zhuǎn)錄RNA。這種可以得到同義RNA探針（與mRNA同序列）和反義RNA探針（與mRNA互補），反義RNA又稱cRNA，除可用于反義核酸研究外，還可用于檢測mRNA的表達水平。在這種情況下，因為探針和靶序列均為單鏈，所以雜交的效率要比DNA-DNA雜交高幾個數(shù)量級。RNA探針除可用于檢測DNA和mRNA外，還有一個重要用途，在研究基因表達時，常常需要觀察該基因的轉(zhuǎn)錄狀況。閔行區(qū)特制探針商家X射線譜儀。測量各種元素產(chǎn)生的X射線波長和強度，并以此對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。

③末端標記法（又叫尾標）。利用末端轉(zhuǎn)移酶可進行“尾標”，尾標適用于寡核苷酸探針標記，寡核苷酸探針多用于核酸“點”突變的檢測，該探針可用核酸合成儀人工合成，克隆出的探針一般較長，特異性好，標記量大，雜交的檢出信號強。探針合成的注意事項①合成探針的長短，一般在20~50個核苷酸之間。合成過長成本高，且易出現(xiàn)聚合酶合成錯誤，雜交時間長，合成太短則特異性下降。②堿基組成G-C應(yīng)含40%~60%，一種堿基連續(xù)重復(fù)不超過4個，以免非特異性雜交產(chǎn)生。③探針自身序列內(nèi)應(yīng)無互補區(qū)域，以免產(chǎn)生“發(fā)夾”結(jié)構(gòu)，影響雜交?？傊?，一個好的探針**終要在實踐中才能加以確認。

為了確定探針是否與相應(yīng)的基因組DNA雜交，有必要對探針加以標記，以便在結(jié)合部位獲得可識別的信號,通常采用放射性同位素32P標記探針的某種核苷酸α磷酸基。但近年來已發(fā)展了一些用非同位素如生物素-親合素系統(tǒng)、地高辛配體等作為標記物的方法。非同位素標記的優(yōu)點是保存時間較長,而且避免了同位素的污染。**常用的探針標記法是缺口平移法(nick translation)。首先用適當濃度的DNA酶Ⅰ（DNAseⅠ）在探針DNA雙鏈上造成缺口，然后再借助于DNA聚合酶Ⅰ（DNa poly merasⅠ）的5’→3’的外切酶活性，切去帶有5’磷酸的核苷酸；同時又利用該酶的5’→3’聚酶活性，使32P標記的互補核苷酸補入缺口，DNA聚合酶Ⅰ的這兩種活性的交替作用，使缺口不斷向3’的方向移動，同時DNA鏈上的核苷酸不斷為32P標記的核苷酸所取代。近年來半導體制程技術(shù)突飛猛進，超前摩爾定律預(yù)估法則好幾年，現(xiàn)階段已向7奈米以下挺進。

用此探針在DNA文庫中篩選，陽性克隆即是目標蛋白的編碼基因。值得一提的是真核細胞和原核細胞DNA組織有所不同。真核基因中含有非編碼的內(nèi)含子序列，而原核則沒有。因此，真核基因組DNA探針用于檢測基因表達時雜交效率要明顯低于cDNA探針。DNA探針（包括cDNA探針）的主要優(yōu)點有下面三點：①這類探針多克隆在質(zhì)粒載體中，可以無限繁殖，取之不盡，制備方法簡便。②DNA探針不易降解（相對RNA而言），一般能有效抑制DNA酶活性。③DNA探針的標記方法較成熟，有多種方法可供選擇，如缺口平移，隨機引物法，PCR標記法等，能用于同位素和非同位素標記。應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門。黃浦區(qū)優(yōu)勢探針現(xiàn)價

分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。感量可達10-14至10-15g。崇明區(qū)挑選探針品牌

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進行微區(qū)成分分析的儀器， [1]可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域，使其發(fā)出特征X射線，測定該X射線的波長和強度，即可對該微區(qū)的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實質(zhì)上就是這兩種儀器的科學組合。崇明區(qū)挑選探針品牌

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