X射線單晶體衍儀器要求： 基本要求 要按式⑷來求解晶體結(jié)構(gòu)，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準(zhǔn)確，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高，求得的結(jié)構(gòu)就準(zhǔn)確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強度一般比較低，不易測得。如何在三維空間測得盡可能多的，盡可能準(zhǔn)確的衍射線強度成為對X射線單晶體衍射儀的基本要求。 實驗儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。如何才能使各晶面族都發(fā)生衍射呢？常用的方法就是轉(zhuǎn)動晶體。轉(zhuǎn)動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會在某個時候符合布拉格方程而產(chǎn)生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數(shù)據(jù)的方法，一為回擺法，二為四圓衍射儀法。X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理商價格

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。X射線衍射儀的原理：當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),這就是X射線衍射的基本原理。衢州衍射儀怎么樣衍射儀廠家直供優(yōu)勢。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測。

X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及保護(hù)電路等組成。這里著重介紹X射線管。X射線管的實質(zhì)是個真空二極管，其陰極是鎢絲，陽極為金屬片。在陰極兩端加上電流之后，鎢絲發(fā)熱，產(chǎn)生熱輻射電子。這些電子在高壓電場作用下被加速，轟擊陽極（又稱靶），產(chǎn)生X射線（此過程產(chǎn)生大量熱量，為了保護(hù)靶材，必須確保循環(huán)水系統(tǒng)工作正常）。X射線管發(fā)生出來的不是純凈的單色光，包含多種波長的射線，很主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽極，使陽極電子產(chǎn)生K激發(fā)，擊走K層電子后，L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。衍射儀如何選擇？上海澤權(quán)告訴您。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

不同的靶，其X射線特征波長不同，根據(jù)布拉格方程2dsinθ=nλ，某一間距為d的晶面族其衍射角將不同,各間距值的晶面族的衍射角將表現(xiàn)出有規(guī)律的改變。因此，使用不同靶材的X射線管所得到的衍射圖上的衍射峰的位置是不相同的，衍射峰位置的變化是有規(guī)律的。（每種晶體結(jié)構(gòu)的晶面間距d是固定的，與何種靶材X射線管無關(guān)）衍射圖上衍射峰間的相對強度主要決定于晶體的結(jié)構(gòu)，但是由于樣品的吸收性質(zhì)也和入射線的波長有關(guān)。因此同一樣品用不同靶所取得的圖譜上衍射峰間的相對強度會稍有差別，與靶材有關(guān)。x射線具有很強的穿透力，醫(yī)學(xué)上常用作檢查，工業(yè)中用來探傷。蕪湖衍射儀哪里有

X射線衍射儀配備一個獨特的小樣品托架，只需15毫克樣品就可以完成分析，提升工作效率。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理商價格

X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點：優(yōu)點: a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為明顯。波長變化用于化學(xué)位的測定 。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。缺點：a）難于作相對分析，故定量分析需要標(biāo)樣。 b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理商價格