x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來(lái)研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。粉末衍射可解決的任何問(wèn)題或可求得的任何結(jié)構(gòu)參數(shù)一般都是以這三個(gè)物理量為基礎(chǔ)的。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。奧林巴斯XRD批發(fā)單晶射線衍射儀主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定 ，包括孿晶的有機(jī)。

X射線衍射擴(kuò)展資料：晶態(tài)物質(zhì)對(duì)X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時(shí)光束沒(méi)有被發(fā)散但方向被改變了而其波長(zhǎng)保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長(zhǎng)程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場(chǎng)景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖,因此，通過(guò)樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析。

不同的靶，其X射線特征波長(zhǎng)不同，根據(jù)布拉格方程2dsinθ=nλ，某一間距為d的晶面族其衍射角將不同,各間距值的晶面族的衍射角將表現(xiàn)出有規(guī)律的改變。因此，使用不同靶材的X射線管所得到的衍射圖上的衍射峰的位置是不相同的，衍射峰位置的變化是有規(guī)律的。（每種晶體結(jié)構(gòu)的晶面間距d是固定的，與何種靶材X射線管無(wú)關(guān)）衍射圖上衍射峰間的相對(duì)強(qiáng)度主要決定于晶體的結(jié)構(gòu)，但是由于樣品的吸收性質(zhì)也和入射線的波長(zhǎng)有關(guān)。因此同一樣品用不同靶所取得的圖譜上衍射峰間的相對(duì)強(qiáng)度會(huì)稍有差別，與靶材有關(guān)。一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉。

X射線粉末衍射儀的注意點(diǎn)：影響衍射環(huán)質(zhì)量的主要因素是樣品的取樣性偏差，即晶體的晶癖特征導(dǎo)致某些方向被過(guò)度衍射，而其他方向衍射不足；用通俗語(yǔ)言描述即，片狀晶體在測(cè)量盤(pán)中呈現(xiàn)“躺著/睡著的姿勢(shì)”，衍射角集中于水平角度，而在縱向上有所欠缺。此類晶體通?？审w現(xiàn)出過(guò)篩前后或粉碎前后XRPD圖譜不同，而其實(shí)際晶型并未發(fā)生變化。因此，針對(duì)不同合成工藝所得原料，應(yīng)先通過(guò)顯微鏡觀察其晶癖，再測(cè)定粉碎或過(guò)篩前后XRPD，避免發(fā)生過(guò)篩導(dǎo)致晶型變化的錯(cuò)誤判斷。此外，在晶型特征峰分析時(shí)，更關(guān)注低角度的峰，因其表示了間距較大的晶面，其衍射峰受干擾的概率較低。總之，判斷不同多晶型的XRPD圖譜，其是否為同一晶型，XRPD中峰的θ角是主要依據(jù)，因其角度大小反應(yīng)的是單元晶格大?。欢逑鄬?duì)強(qiáng)度取決于晶體中的原子種類及其分布位置。如所測(cè)圖譜質(zhì)量不高，則相對(duì)峰強(qiáng)度差異通常不應(yīng)成為晶型不同的判斷依據(jù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀批發(fā)廠家

X射線衍射儀既可以單屏控制面板現(xiàn)實(shí)多種數(shù)據(jù)，還能預(yù)先設(shè)置校準(zhǔn)程序，并且輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家

在研究行星進(jìn)程和地球構(gòu)造過(guò)程中，地理學(xué)家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術(shù)如：小點(diǎn)激發(fā)，分布分析和無(wú)標(biāo)定量分析，日漸成為地質(zhì)研究及礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器。X射線衍射儀（XRD）可定量測(cè)量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被認(rèn)為是晶體相定量分析很適合的方法。專業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為這些判定提供了一系列解決方案。鑄造廠，冶煉廠和鋼廠還有金屬行業(yè)的其他方面都是連續(xù)生產(chǎn)并要求日夜控制生產(chǎn)和進(jìn)料出料的質(zhì)量。合金的化學(xué)含量，殘余應(yīng)力是與結(jié)構(gòu)失效相關(guān)的重要特征。X射線衍射儀是無(wú)損精確測(cè)量殘余應(yīng)力的方法。X射線衍射具有的空間分辨率和測(cè)量硬化材料的能力提供了非接觸式測(cè)量。為了滿足分析任務(wù)的各種苛刻要求，系列儀器為各種預(yù)算和需要提供靈活組合方式和樣品處理方式。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家