IC芯片檢測(cè)需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備【ATE】+機(jī)械臂【Handler】+儀器儀表,需要制作的硬件是測(cè)試板【Loadboard】+測(cè)試插座【Socket】等。系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試,常應(yīng)用于功能測(cè)試、性能測(cè)試和可靠性測(cè)試中,常常作為成品FT測(cè)試的補(bǔ)充而存在,顧名思義就是在一個(gè)系統(tǒng)環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試,就是把芯片放到它正常工作的環(huán)境中運(yùn)行功能來檢測(cè)其好壞,缺點(diǎn)是只能覆蓋一部分的功能,覆蓋率較低所以一般是FT的補(bǔ)充手段。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是機(jī)械臂【Handler】,需要制作的硬件是系統(tǒng)板【SystemBoard】+測(cè)試插座【Socket】。對(duì)于多種工作方式的裝置,如錄像機(jī),在不同工作方式下,IC芯片各引腳電壓也是不同的。CC2642R1FRGZR現(xiàn)貨供應(yīng)
IC芯片技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計(jì)技術(shù),主要體現(xiàn)在加工設(shè)備,加工工藝,封裝測(cè)試,批量生產(chǎn)及設(shè)計(jì)創(chuàng)新的能力上。如何判斷IC芯片的好壞:不在路檢測(cè):這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的,一般情況下可用萬用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的ic進(jìn)行比較。在路檢測(cè):這是一種通過萬用表檢測(cè)IC各引腳在路(IC在電路中)直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩,是檢測(cè)IC常用和實(shí)用的方法。LP3878MRX-ADJ/NOPBic芯片對(duì)于IC芯片廠家來說,流程需要嚴(yán)格按照相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,如果出現(xiàn)了問題的話,會(huì)影響產(chǎn)品的成品率。
CP【ChipProbing】顧名思義就是用探針【Probe】來扎Wafer上的芯片,把各類信號(hào)輸入進(jìn)IC芯片,把芯片輸出響應(yīng)抓取并進(jìn)行比較和計(jì)算,也有一些特殊的場(chǎng)景會(huì)用來配置調(diào)整芯片【Trim】。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備【ATE】+探針臺(tái)【Prober】+儀器儀表,需要制作的硬件是探針卡【ProbeCard】。封裝后成品FT測(cè)試,常應(yīng)用與功能測(cè)試、性能測(cè)試和可靠性測(cè)試中,檢查芯片功能是否正常,以及封裝過程中是否有缺陷產(chǎn)生,并且?guī)椭诳煽啃詼y(cè)試中用來檢測(cè)經(jīng)過“火雪雷電”之后的芯片是不是還能工作。
超大規(guī)模IC芯片:21世紀(jì)之后,尤其是2010年前后,很多電子產(chǎn)品使用的芯片都是超大規(guī)模的,這種芯片的集成度十分夸張,晶體管數(shù)量基本都在100萬甚至達(dá)到千萬,因此,它們的制程工藝都達(dá)到了20nm的級(jí)別,有的甚至能夠達(dá)到10nm的級(jí)別,你很難想象在一塊只有平方厘米的芯片上包含了上千萬的晶體管和電路元件。芯片可以說是我們現(xiàn)代社會(huì)重要的科技元件,它能代表人類的智慧結(jié)晶和研究成果。未來社會(huì)在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi),我們依然離不開芯片,因此,IC芯片還會(huì)繼續(xù)發(fā)展下去,所以我們能夠預(yù)見到,芯片必然還會(huì)朝著高集成度上繼續(xù)發(fā)展,產(chǎn)生出性能更強(qiáng)、更加高科技的電子產(chǎn)品。IC芯片的集成度是指單塊芯片上所容納的元件數(shù)目。集成度越高,所容納的元件數(shù)目越多。
在某種程度上來說,正是因?yàn)镮C芯片的大量發(fā)展,功率半導(dǎo)體才改稱為電源管理半導(dǎo)體。也正是因?yàn)檫@么多的集成電路(IC)進(jìn)入電源領(lǐng)域,人們才更多地以電源管理來稱呼現(xiàn)階段的電源技術(shù)。電源管理半導(dǎo)體中的主導(dǎo)部分是電源管理IC。功率因數(shù)控制PFC預(yù)調(diào)制IC,提供具有功率因數(shù)校正功能的電源輸入電路;脈沖調(diào)制或脈幅調(diào)制PWM/PFM控制IC,為脈沖頻率調(diào)制和/或脈沖寬度調(diào)制控制器,用于驅(qū)動(dòng)外部開關(guān);線性調(diào)制IC(如線性低壓降穩(wěn)壓器LDO等),包括正向和負(fù)向調(diào)節(jié)器,以及低壓降LDO調(diào)制管;電池充電和管理IC。IC芯片的工作原理是:將電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上從而進(jìn)行運(yùn)算與處理的。TPS62822DLCTic芯片
選擇IC芯片要根據(jù)生產(chǎn)廠商的營(yíng)業(yè)資本看生產(chǎn)規(guī)模。CC2642R1FRGZR現(xiàn)貨供應(yīng)
IC芯片檢測(cè)時(shí)萬用表置于交流電壓擋,正表筆插入db插孔;對(duì)于無插孔的萬用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ic,如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值,只能供參考??傠娏鳒y(cè)量法:該法是通過檢測(cè)IC電源進(jìn)線的總電流,來判IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合,IC損壞時(shí)(如某一個(gè)pn結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使總電流發(fā)生變化。所以通過測(cè)量總電流的方法可以判斷IC的好壞。CC2642R1FRGZR現(xiàn)貨供應(yīng)
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