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PINTECH品致光隔離探頭和傳統(tǒng)差分探頭的原理與差異性
光隔離探頭和傳統(tǒng)差分探頭在測量原理、隔離性能、抗干擾能力、應用場景等方面存在差異，光隔離探頭在高壓、強干擾及浮地測量中優(yōu)勢突出，而傳統(tǒng)差分探頭在常規(guī)差分信號測量中更具性價比。
光隔離探頭主要采用電-光-電轉換技術，前端將電信號轉換為光信號，通過光纖傳輸至后端再還原為電信號，實現(xiàn)輸入輸出端電氣隔離。這種結構可徹底消除地環(huán)路干擾，避免高壓電位對測量儀器和人員的危害。
傳統(tǒng)差分探頭，基于電壓差分放大原理，通過內部精密電路對兩個輸入端的電位進行實時差分運算，有效消除環(huán)境噪聲。其信號傳輸仍依賴電纜，無法實現(xiàn)電氣隔離。
測量范圍與精度，光隔離探頭，支持從±0.01V到±6250V的差模輸入電壓，通過切換衰減器可適應不同測量需求。其直流增益精度優(yōu)于1%，底噪小于0.45mVrms，具有高精度和低底噪的特點；傳統(tǒng)差分探頭，測量范圍和精度因型號而異，通常適用于中低電壓測量，在高壓或高頻信號測量中可能存在局限性
光隔離探頭，帶寬范圍較寬（如DC-1GHz），可滿足高頻信號測量需求。其衰減器輸入電容低至1pF，可降低對被測電路的影響，提高信號還原度；傳統(tǒng)差分探頭，帶寬通常在100MHz以上，部分高性能型號可達GHz級別。
光隔離探頭主要適用于高壓浮地系統(tǒng)、強電磁干擾環(huán)境、第三代半導體器件測試（如SiC、GaN）、電源設備評估、EMI和ESD故障排除等場景。傳統(tǒng)差分探頭則比較適用于常規(guī)差分信號測量，如高速數(shù)字接口（PCIe、USB）、通信協(xié)議（RS485、CAN）、電源紋波等，在測量環(huán)境相對簡單且主要關注差分信號精度時更具性價比。
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