廣東憶存智能裝備有限公司2025-04-05

主要用于測試SSD的斷電、大量讀/寫比對、全盤讀/寫、指定 Pattern 對媒介的老化測試、新增壞塊的統(tǒng)計(jì)和協(xié)議測試等等;主要分為這幾種 PCT 、BIT 、MDT 與 FDS。 PCT(Power Cycling Test) :各種Pattern異常斷電測試，測試SSD算法的斷電處理和重建，驗(yàn)證異常斷電時(shí)對數(shù)據(jù)的完整性。 BIT(Burn-In Test): 驗(yàn)證各種Pattern順序或隨機(jī)讀/寫是否正常，以及各種Pattern對媒介的響。 MDT(Multi-Drive Test) : 驗(yàn)證SSD是否支持ATA1-8規(guī)格的命令，將對SSD發(fā)送所支持命令，并確認(rèn)結(jié)果有無問題。 FDS(Full Drive Scan) : 對SSD進(jìn)行的全盤讀寫操作，驗(yàn)證映射表是否正確:

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