高溫試驗(yàn)箱和低溫試驗(yàn)箱在功能、溫度范圍、應(yīng)用場景及結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上存在差異，具體如下： 功能定位：高溫試驗(yàn)箱模擬極端高溫環(huán)境，測試產(chǎn)品耐熱性、熱老化及熱穩(wěn)定性，如電子元件高溫失效分析；低溫試驗(yàn)箱則模擬極寒條件，檢測材料脆化、冷凝及低溫啟動(dòng)性能，如電池低溫充放電效率。 溫度范圍：高溫試驗(yàn)箱通常覆蓋室溫至300℃（部分可達(dá)500℃以上），適用于短時(shí)高溫沖擊或長期老化；低溫試驗(yàn)箱范圍為-70℃至室溫（溫型可低至-196℃），滿足極寒環(huán)境模擬需求。 應(yīng)用場景：高溫箱用于汽車電池?zé)峁芾?、光伏組件耐候性測試；低溫箱則應(yīng)用于醫(yī)療器械冷鏈驗(yàn)證、航空航天材料低溫脆性研究。例如，手機(jī)需通過高溫箱驗(yàn)證散熱設(shè)計(jì)，同時(shí)通過低溫箱測試低溫啟動(dòng)可靠性。 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：高溫箱采用鎳鉻合金加熱器與強(qiáng)制對流風(fēng)機(jī)實(shí)現(xiàn)快速升溫；低溫箱依賴復(fù)疊式制冷系統(tǒng)，通過多級壓縮降低溫度，并配備保溫層減少冷量流失。兩者均具備精確控溫系統(tǒng)，但低溫箱需額外處理結(jié)霜問題。

高溫試驗(yàn)箱和低溫試驗(yàn)箱在功能、溫度范圍、應(yīng)用場景及結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上存在差異，具體如下： 功能定位：高溫試驗(yàn)箱模擬極端高溫環(huán)境，測試產(chǎn)品耐熱性、熱老化及熱穩(wěn)定性；低溫試驗(yàn)箱則模擬低溫條件，評估材料脆化、冷凝及低溫啟動(dòng)性能。 溫度范圍：高溫試驗(yàn)箱通常覆蓋室溫至300℃（部分可達(dá)500℃以上），適用于短時(shí)高溫沖擊或長期老化；低溫試驗(yàn)箱范圍一般為-70℃至室溫，溫型號可低至-196℃，滿足極寒環(huán)境模擬需求。 應(yīng)用場景：高溫試驗(yàn)箱多用于電子元器件耐熱測試、汽車電池?zé)峁芾?、光伏組件耐候性評估；低溫試驗(yàn)箱則常見于電子產(chǎn)品低溫啟動(dòng)驗(yàn)證、橡膠材料脆性檢測、醫(yī)療器械冷鏈運(yùn)輸監(jiān)控。 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：高溫箱采用鎳鉻合金加熱器與強(qiáng)制對流風(fēng)機(jī)，實(shí)現(xiàn)快速升溫；低溫箱依賴復(fù)疊式制冷系統(tǒng)，通過多級壓縮實(shí)現(xiàn)深度制冷。此外，高溫箱側(cè)重保溫隔熱以減少熱量散失，低溫箱則需強(qiáng)化密封性防止冷氣泄漏。