深圳市爵輝偉業(yè)電路有限公司2025-04-05

AOI 包含2D 或 3D 相機(jī)，可點(diǎn)擊高分辨率圖像并驗(yàn)證原理圖。它還與數(shù)據(jù)庫(kù)中可用的完美和不完美設(shè)計(jì)進(jìn)行比較，AOI可以非常準(zhǔn)確地找出所有可見(jiàn)的錯(cuò)誤。 AOI 與另一種測(cè)試方法一起使用以確保正確的結(jié)果，例如使用飛測(cè)的AOI，以及使用在線測(cè)試的 AOI。 AOI 可以直接包含在生產(chǎn)線上，以防止任何過(guò)早的電路板故障。 AOI 測(cè)試優(yōu)點(diǎn)： · 可以準(zhǔn)確檢測(cè)致命缺陷 · 一致的方法 AOI 測(cè)試缺點(diǎn)： · 只能檢測(cè)到表面缺陷 · 耗時(shí)的過(guò)程 · 設(shè)置會(huì)根據(jù)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改 · 基于數(shù)據(jù)庫(kù)的檢測(cè)并不總是 100% 準(zhǔn)確

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