在齒輪尺寸的在線和離線測量方面，輪齒的工作表面通常需要經(jīng)過多次機加工。機加工過程中產(chǎn)生的表面紋理會影響齒輪的許多功能特性。因此,在重要的機加工操作(如滾齒或磨齒)后,用高質(zhì)量的測量儀器來測量齒輪參數(shù)是很有必要的。M62-Flex是一種柔性量規(guī),適用于測量外齒輪的DOB(MdK)、齒根直徑和大徑等尺寸。在齒輪測試方面，M62雙嚙測臺適用于檢查內(nèi)/外齒輪的綜合偏差,并能在無齒隙(雙嚙滾動)的情況下測量更多的功能參數(shù)。測試時待測齒輪與更高質(zhì)量等級的標(biāo)準(zhǔn)件嚙合。MARPOSS嗅探氦氣泄漏測試方案能夠測量10-2 - 10-4 SCC/sec的泄漏，該技術(shù)在漏率范圍內(nèi)取得了良好測試結(jié)果。局部放電測試設(shè)備

Optoquick讓操作變得更高效。Optoquick減少了生產(chǎn)過程中，浪費在零件驗證上的時間。Optoquick的操作不但快速，而且可將它直接安裝在生產(chǎn)機床旁，消除了昂貴的工件物流成本。使用Optoquick提高了生產(chǎn)率，并可對生產(chǎn)高峰進行管理。因此，可在數(shù)月之內(nèi)獲取投資回報。除此之外，還可以提高生產(chǎn)質(zhì)量水平。Optoquick在生產(chǎn)機床旁安裝，從而可更加頻繁進行工件的測量驗證與確認(rèn)。因此，Optoquick可提升質(zhì)量保障，在一定程度減少廢件的生產(chǎn)。電池pack 組檢測設(shè)備安裝光學(xué)測量方案可集成用于hairpin端子的測量和檢查,hairpin焊接工藝之前或之后皆適用。

Optoquick幫助操作人員直接在生產(chǎn)機床旁，進行快速與準(zhǔn)確的質(zhì)量檢查。通過減少工件物流等待的時間，而優(yōu)化了工藝流程。Optoquick系統(tǒng)采用非接觸式光學(xué)掃描系統(tǒng)，實現(xiàn)快速與準(zhǔn)確的測量。測量可在靜態(tài)測量模式或工件旋轉(zhuǎn)的動態(tài)模式中完成。工業(yè)級光學(xué)傳感器與馬波斯數(shù)字信號處理技術(shù)，讓測量變得準(zhǔn)確與可靠。例如：偏心件、曲軸連桿或其它復(fù)雜特征也能可靠測量。對于在高速轉(zhuǎn)動下測量凸輪輪廓這一復(fù)雜任務(wù)而言，馬波斯凸輪隨動測量是一個創(chuàng)新型解決方案。它能夠測量所有類型的凸輪輪廓，包括凹面部分的輪廓。

馬波斯在扁線尺寸測量深耕多年，能夠提供針對生產(chǎn)電動車定子測量的多款解決方案。眾所周知，生產(chǎn)電動車定子需要使用不同類型的扁線，馬波斯提供的這款柔性非接觸式測量方案就能夠測量不同類型扁線的主要幾何特征。這解決了生產(chǎn)電動車定子測量遇到的問題。實際上，在扁線尺寸測量方面，馬波斯可提供非接觸式解決方案，同時保證不同類型的零件都能夠使用測設(shè)備測量。這在一定程度上體現(xiàn)了馬波斯該系列解決方案無需換工裝速度快且精度高的優(yōu)點。泄漏標(biāo)準(zhǔn)件和LTC檢漏機控制是定期檢查和校準(zhǔn)測試系統(tǒng)必不可少的設(shè)備。

在半導(dǎo)體行業(yè)，圓晶減薄當(dāng)然是非常精密的加工過程。在減薄過程中，需要用接觸式或非接觸式傳感器嚴(yán)格控制加工過程。從步驟來看，封裝前，圓晶需要達到正確的厚度，這是半導(dǎo)體生產(chǎn)的關(guān)鍵。圓晶背面研磨（圓晶減?。┦且环N半導(dǎo)體生產(chǎn)工序，在此期間需要嚴(yán)格控制圓晶厚度，使圓晶達到超薄的厚度，可疊放和高密度封裝在微型電子器件中。馬波斯傳感器甚至可檢測到砂輪與圓晶接觸的瞬間或檢查任何過載。同時，馬波斯傳感器可在干式和濕式環(huán)境中可靠地在線測量厚度。本質(zhì)上NVH檢測的原理是通過施加與實際工況相似(甚至更高)的轉(zhuǎn)速和扭矩值來對齒輪進行檢測。斷刀監(jiān)測

Marposs可為機電組件的整體裝配提供靈活的解決方案,如逆變器和電池充電器等。局部放電測試設(shè)備

Optoflash是世界上軸向可以采用多個光學(xué)傳感器的測量系統(tǒng)。這意味著可以通過不同的光學(xué)傳感器分別獲取圖像，然后將所有圖像完美地結(jié)合在一起，從而生成一幅單一的工件合成圖像，并可確保合成邊緣毫無任何斷點和缺口。得益于這一獨特的設(shè)計，Optoflash測量系統(tǒng)無需光學(xué)系統(tǒng)或工件本身進行任何軸向運動,就可以覆蓋長度達300mm的測量范圍。當(dāng)前，作為世界上前列的軸向可以采用多個光學(xué)傳感器的測量系統(tǒng)。Optoflash的總測量時間可達5.6秒!局部放電測試設(shè)備