群脈沖（EFT）近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場近場耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進電磁掃描，采用近場電磁耦合的方式將100V-4kV的群脈沖(EFT)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決群脈沖抗擾度問題，提高產品的群脈沖抗擾能力。普遍用于多媒體設備、觸控設備、感應器、無線終端模塊、儀器儀表等行業(yè)的群脈沖抗擾度問題解決，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、群脈沖敏感源頭定位、器件選型群脈沖抗干擾性能評估、更新方案設計的群脈沖抗干擾性能評估等方面。電磁干擾(ElectromagneticInterference簡稱EMI)又分為傳導干擾和輻射干擾兩種。鄭州中國SRRC輻射雜散廠家

EMI整改：1、對于差模干擾超標可調整X電容量,添加差模電感器，調差模電感量；2、對于共模干擾超標可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對快速二極管如FR107一對普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓制共摸的方法（整改建議）對于外殼接地的，在地線上用一個磁環(huán)串繞2-3圈會對10MHZ以上干擾有較大的衰減作用；可選擇緊貼變壓器的鐵芯粘銅箔,銅箔閉環(huán)。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級大電路并聯電容的大小。電磁干擾也是變頻器驅動系統(tǒng)的一個主要問題。山東快速輻射雜散配置只有處于可見光頻域以內的電磁波，才是可以被人們看到的。

輻射雜散快速測試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無線射頻功能的電子產品的關鍵性能指標，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復雜，在產品設計和生產階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標準全電波暗室測試方案成本高，測試時間長，不能滿足研發(fā)階段的快速分析測試及生產階段的批量一致性抽檢。輻射雜散快速測試系統(tǒng)，采用多天線、多角度快速切換測試，既保證了測試結果的準確性，又縮短了測試時間，提升了測試效率，并且在性能分析時可以快速定位雜散信號的方向。系統(tǒng)占用空間小，可便捷移動，可用于產品研發(fā)階段輻射雜散問題分析及生產階段的批量抽檢。

EMI認證機構通常按照EMI標準的準峰值檢波進行測試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測試，而是需要相對的重復性好的測試。準峰值檢波用來檢測信號包絡加權后的峰值(準峰值)，它根據時長和重復率對信號加權。準峰值檢波的平均過程需耗費時間，測試時間長，不利于日常診斷。由于準峰值檢波測試幅度結果永遠小于或等于峰值檢波的測試結果，因此在進行EMI診斷時，用峰值檢波可以快速發(fā)現EMI問題。電源是EMI干擾噪聲的主要來源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。群脈沖（EFT）近場電磁掃描診斷分析，歡迎來電咨詢。

從90年代末至今，近場微波成像已經引起了學者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標散射近場的復雜性，致使近場微波成像遠遠滯后于遠場成像。近場微波成像中，著眼于潛在的應用，目標函數既可以是理想導體目標的輪廓函數，也可以是目標介電常數的分布函數。從照射天線與成像目標的相對運動方式來看，近場微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉臺模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機理清晰，但數學公式復雜且有很大的局限性，因而，實際中使用較少；而球背向投影法在實際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉臺模式情況下的目標函數解析公式已經給出。輻射近場測量的研究是很有意義的，歡迎來電咨詢。西安單天線無線性能配置

一種電磁場近場掃描裝置，包括探頭、空間移動平臺、顯微攝像裝置、信號分析裝置和計算機；鄭州中國SRRC輻射雜散廠家

傳導抗擾度（CS）近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場近場耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進電磁掃描，采用近場電磁耦合的方式，將150kHz-1000MHz的傳導抗擾度(CS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決傳導抗擾度問題，提高產品的傳導抗擾度能力，該方法也能解決大電流注入（BCI）抗擾度問題。普遍用于、醫(yī)療、感應器、儀器儀表、汽車電子部件等行業(yè)的傳導抗擾度問題解決，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、傳導抗擾度敏感源頭定位、器件選型傳導抗擾度性能評估、更新方案設計的傳導抗擾度性能評估、電磁仿真驗證等方面。鄭州中國SRRC輻射雜散廠家

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