AOI（automaticallyopticalinspection）是光學自動檢測，顧名思義是通過光學系統(tǒng)成像實現(xiàn)自動檢測的一種手段，是眾多自動圖像傳感檢測技術(shù)中的一種檢測技術(shù)，技術(shù)點如何獲得準確且高質(zhì)量的光學圖像并加工處理。AOI檢測技術(shù)應(yīng)運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發(fā)展需求。AOI檢測的比較大優(yōu)點是節(jié)省人力，降低成本，提高生產(chǎn)效率，統(tǒng)一檢測標準和排除人為因素干擾，保證了檢測結(jié)果的穩(wěn)定性，可重復性和準確性，及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良，確保出貨質(zhì)量。 該產(chǎn)品具有高度的可靠性和耐用性，可以長時間使用。東莞新一代AOI原理

AOI就是自動光學辨識系統(tǒng),是英文(AutoOpticalInspection)的縮寫，國內(nèi)叫做自動光學檢測儀，現(xiàn)在已經(jīng)普遍應(yīng)用在電子行業(yè)的電路板組裝生產(chǎn)線的外觀檢查并取代以往的人工目檢。AOI自動光學檢測設(shè)備的基本原理是利用影像技術(shù)來比對待測物與標準影像是否有過大的差異來判斷待測物有否符合標準，所以AOI的好壞基本上也取決于其對影像的解析度、成像能力與影像辨析技術(shù)。早期時候AOI自動光學檢測設(shè)備大多被拿來檢測IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷，隨著技術(shù)的演進，現(xiàn)在則被拿來用在SMT組裝線上檢測電路板上的零件焊錫組裝后的品質(zhì)狀況，或是檢查錫膏印刷后有否符合標準。 廣州自動AOI品牌該產(chǎn)品具有高度的兼容性，可以與多種設(shè)備進行無縫連接。

AOI技術(shù)可以對檢測結(jié)果進行數(shù)據(jù)分析，可以提供詳細的檢測報告，從而幫助電子制造企業(yè)進行質(zhì)量控制和生產(chǎn)管理。AOI技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域AOI技術(shù)廣泛應(yīng)用于電子制造業(yè)的各個領(lǐng)域，包括通信、計算機、消費電子、汽車電子等。在通信領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于光纖通信設(shè)備的制造；在計算機領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于主板、顯卡等電路板的制造；在消費電子領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于手機、平板電腦等電子產(chǎn)品的制造；在汽車電子領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于汽車電子控制系統(tǒng)的制造。

愛為視（Aivs）新一代智能AOI運用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同帖裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在線檢測方案，以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用愛為視（Aivs）新一代智能AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，愛為視（Aivs）新一代智能AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。AOI技術(shù)可以提高電子制造的效率和質(zhì)量。它可以在制造過程中及時發(fā)現(xiàn)問題，從而減少了制造成本和時間。

AOI圖像采集的然后一個關(guān)鍵步驟是控制系統(tǒng)，光電傳感器的FOV（視窗）有限，物體高速運動中準確地抓拍到清晰的圖像，軟硬件協(xié)調(diào)動作非常重要，如下圖所示，當圖像傳感器與機臺移動速度不匹配時造成圖像的拉伸，收縮等變形，所以，載物移動平臺XY方向移動與圖像采集光電傳感器的同步移動影響到數(shù)據(jù)的準確，要在固定光照，等間距下拍攝一幅清晰的圖像，高精度的導軌，電機和運動控制程序是非常必要的。數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換）數(shù)據(jù)處理階段是圖像的預(yù)處理階段，是采集圖像的加工處理過程，為圖像比對提供準確可靠的圖片信息，主要包含了背景噪音減少，圖像增強和銳化等過程。 AOI是將電路板上的器件或者特征(比如焊點)捕捉成像。廣東離線AOI測試

離線AOI能夠自動記錄檢測結(jié)果，方便后續(xù)分析和處理。東莞新一代AOI原理

AOI檢測設(shè)備中常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對不具有發(fā)光性質(zhì)的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應(yīng)的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長，測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。（下圖為側(cè)光源與同軸光源實例）東莞新一代AOI原理