深圳市欣同達科技有限公司2024-11-13

不同類型和質(zhì)量等級的測試座能夠承受的比較大插拔次數(shù)有所不同。一般來說，普通的消費級測試座可能能夠承受幾百次到上千次的插拔，而工業(yè)級、高精度的測試座可能會達到數(shù)千次甚至上萬次的插拔。 超過其比較大插拔次數(shù)后，測試座的性能通常會出現(xiàn)以下變化： 接觸不良：頻繁的插拔會使接觸探針或插座的彈性部件逐漸失去彈性，導(dǎo)致與被測器件引腳的接觸不再緊密，從而出現(xiàn)接觸電阻增比較大的情況，影響信號傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。 機械損傷：插拔過程中可能會對測試座的機械結(jié)構(gòu)造成損傷，如夾具松動、探針彎曲或折斷等，進一步影響測試座的正常使用和穩(wěn)定性。 信號傳輸問題：由于接觸不良和機械損傷等原因，可能會導(dǎo)致信號在傳輸過程中出現(xiàn)中斷、衰減或失真等問題，使得測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

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