ICsocket老化座在使用過程中，如何避免過熱損壞？?

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深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-09

為避免 IC 元件在老化座使用過程中過熱損壞，可采取以下措施。首先，確保老化座的散熱系統(tǒng)正常運(yùn)行。定期清理老化座的散熱鰭片，防止灰塵堆積影響散熱效果，一般建議每月至少清理一次。檢查散熱風(fēng)扇是否正常運(yùn)轉(zhuǎn)，若風(fēng)扇出現(xiàn)轉(zhuǎn)速降低或停轉(zhuǎn)情況，及時更換風(fēng)扇。其次，合理設(shè)置老化測試的溫度參數(shù)。根據(jù) IC 元件的規(guī)格書，嚴(yán)格設(shè)定老化測試的溫度范圍，不要超出元件所能承受的高溫度。例如，若 IC 元件的高工作溫度為 100℃，老化測試溫度設(shè)定應(yīng)低于此值，一般可在 80℃ - 90℃之間，具體根據(jù)元件特性和測試要求確定。? 再者，優(yōu)化老化座的布局和安裝環(huán)境。避免老化座在狹小、通風(fēng)不良的空間內(nèi)使用，要保證其周圍有足夠的空間用于空氣流通。若同時使用多個老化座，要合理安排它們之間的間距，防止熱量相互聚集。另外，采用合適的散熱輔助設(shè)備，如在老化箱內(nèi)安裝空調(diào)制冷裝置，進(jìn)一步降低老化座周圍環(huán)境溫度，提高散熱效率。同時，在老化測試過程中，實(shí)時監(jiān)測 IC 元件的溫度，通過溫度傳感器等設(shè)備反饋的數(shù)據(jù)，及時調(diào)整散熱措施或測試參數(shù)，確保 IC 元件始終處于適宜的溫度環(huán)境下進(jìn)行老化測試。